Число - интерференционная полоса
Cтраница 2
В ряде исследований приходится сталкиваться с задачей регистрации и подсчета числа интерференционных полос, проходящих перед щелью ФЭУ. [16]
Из формулы (3.3.14) следует, что толщину пластинки можно измерить, подсчитав число интерференционных полос ( число р), укладывающихся между фиксированными длинами волн К и Kz в фокальной плоскости спектрального аппарата. Значения для п и п2 должны быть известны. [17]
Непосредственным результатом измерений на интерферометрах является не разность показателей п2 - ь а пропорциональное ей число интерференционных полос, на которое смещается интерференционная картина вследствие разницы показателей преломления сравниваемых образцов. [18]
Непосредственным результатом измерений на интерферометрах является не разность показателей п2 - п, а пропорциональное ей число интерференционных полос, на которое смещается интерференционная картина вследствие разницы показателей преломления сравниваемых образцов. [19]
Непосредственным результатом измерений на интерферометрах является не разность показателей nz - п4, а пропорциональное ей число интерференционных полос, на которое смещается интерференционная картина вследствие разницы показателей преломления сравниваемых образцов. [20]
Непосредственным результатом измерений на интерферометрах является не разность показтелей п2 - п, а пропорциональное ей число интерференционных полос, на которое смещается интерференционная картина вследствие разницы показателей преломления сравниваемых образцов. [21]
Погрешность измерения А опреде ляется погрешностью измерения длины волны света в воздухе и ошибкой в подсчете числа интерференционных полос за четверть периода колебаний. Изменение длины волны света может быть учтено введением соответствующей поправки. Таким образом, определяющей является погрешность подсчета числа импульсов ( числа интерференционных полос), на которую влияет сейсмический фон, делающий интерференционную картину неустойчивой, а также неточность установки начала и конца счета импульсов. [22]
Погрешность измерения А опрел ляется погрешностью измерения длин; волны света в воздухе и ошибкой в подсчете числа интерференционных полос за четверть периода колебаний. Изменение длины волны света может быть учтено введением соответствующей поправки. Таким образом, определяющей является погрешность подсчета числа импульсов ( числа интерференционных полос), на которую влияет сейсмический фон, делающий интерференционную картину неустойчивой, а также неточность установки начала и конца счета импульсов. [23]
А / Ву ( К / 2, где А / В - прогиб интерференционной полосы, выраженный в числе интерференционных полос; л / 2 - половина длины световой волны. Отклонение длины измеряемой концевой меры Из от длины образцовой меры Об более высокого разряда определяют по взаимному смещению двух систем полос, наблюдаемых при наложении стеклянной пластины одновременно на две концевые меры, притертые рядом к поверхности нижней стеклянной пластины. На меньшей мере ( Об) полосы появятся раньше, нулевая ахроматическая полоса на ней в виде треугольника повернется гипотенузой в сторону большей меры. Разность размеров ( в зоне нижних прилегающих углов) определяют умножением числа полос, на которое две системы полос сместились одна по отношению к другой, на половину длины световой волны, принимаемую при этом методе л / 2 0 3 мкм. Например, на рис. 3.31 6 показано, что система полос на измеряемой мере Из смещена относительно системы полос на образцовой мере Об на 2 5 полосы. Мера Из в зоне нижних прилегающих углов больше меры Об на величину Л 2 5Х X0 30 75 мкм. [24]
 |
Общий вид рефрактометра ИРМ-1. [25] |
Для определения разности хода лучей в иммерсионной жидкости и эталоне при длине волны Я0 ( в момент исчезновения образца) достаточно подсчитать число N интерференционных полос, проходящих мимо края эталона при изменении длины волны от Яэ до АО. [26]
 |
Схема дилатометра Стрелкова.| Зависимость периода решетки / и плотности 2 сплавов Ni - А1 от состава. [27] |
Чувствительность прибора 3 - 10 - е см. Изменение длины образца определяется по формуле Д / лЯ / 2, где п - число интерференционных полос; л - длина волны света. [28]
Применение метода двухкамерной кюветы в рефрактометрии трехкомпонентных систем не требует измерения плотности и абсолютных значений показателей преломления, а сводит всю задачу к простому счету числа интерференционных полос, укладывающихся в избранном спектральном участке и определяющихся разностью дисперсий исследуемой и эталонной жидкостей. [29]
В радиоэлектронной промышленности с помощью этих методов определяют дефектные элементы полупроводниковых и интегральных схем по увеличению нагрева таких элементов при работе схемы и связанному с ним росту числа интерференционных полос. Перечисленные примеры не исчерпывают многообразия применений голографических методов неразрушающего контроля и их возможностей. [30]
Страницы: 1 2 3 4