Число - интерференционная полоса - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Спонсор - это человек, которому расстаться с деньгами проще, чем объяснить, откуда они взялись. Законы Мерфи (еще...)

Число - интерференционная полоса

Cтраница 3


Два противоположных края пластинок вплотную прижаты друг к другу. Определить число N интерференционных полос, наблюдаемых на единице длины пластинок, если отраженный свет ( К 0 63 мкм) рассматривают, как показано на рисунке.  [31]

ГОСТ 121 - 54), размеры Я которых отличаются один от другого на величину перемещения микровинта при его повороте на / 4 оборота. По числу интерференционных полос на поверхностях контакта и по их взаимному расположению определяют действительное отклонение от параллельности.  [32]

Для получения интерференционной картины путем деления естественной волны на две части необходимо, чтобы оптическая разность хода Д была меньше, чем длина когерентности. Это требование ограничивает число видимых интерференционных полос, наблюдаемых по схеме, изображенной на рис. 119.2. С увеличением номера полосы т раз - ность хода растет, вследствие чего четкость полос делается все хуже и хуже.  [33]

После этого подвести противоположный край интерференционной картины под перекрест нитей и также заметить деление / 2, соответствующее новому положению тубуса с насадкой. При этом необходимо сосчитать число темных интерференционных полос п, прошедших перекрест нитей. Во время отсчетов по барабану микрометра руку необходимо удалять от барабана, так как прикосновение ее смещает интерференционную картину.  [34]

35 Схема интерференционного манометра.| Манганиновый датчик. [35]

Луч, падающий на диафрагму из специального источника света, интерферирует. Изменение формы диафрагмы в зависимости от давления меняет число интерференционных полос, что регистрируется на фотографической пленке.  [36]

Перед контролем стеклянные пластины и рабочие поверхности уплотнительных колец необходимо обезжирить спиртом и протереть насухо. Пластину накладывают на рабочую поверхность, добиваясь такого контакта, при котором число интерференционных полос наименьшее. Отклонение от плоскости определяют подсчетом одинаковых по цвету полос при кольцевом их расположении. Интерференционные полосы считают, отступая на 0 5 мм от края контролируемой поверхности.  [37]

38 Изображения реального источника света в плоских зеркалах, расположенных под малым углом друг к другу. [38]

Из рис. 197 видно, что для расчета интерференционной картины действительно можно воспользоваться схемой Юнга и всеми полученными выше для нее формулами. Так как область интерференции на экране ограничена точками В и В2, то легко подсчитать число интерференционных полос. В В2 2a - tg а, где а - расстояние от линии пересечения зеркал до экрана.  [39]

Картина, возникающая при этом в фокальной плоскости выходного коллиматора, похожа на ту, которая имеет место во входном зрачке сисама. При точном совмещении растров число полос муара в поле зрения прибора стремится к нулю, точно так же, как и число интерференционных полос сисама при аналогичных условиях. При увеличении взаимного смещения растров число полос муара монотонно увеличивается, а амплитуда модуляции падает до нуля, образуя затем побочные максимумы и минимумы, как это имело место и в случае сисама. В сисаме модуляция светового потока происходит в результате изменения ( для данной длины волны) числа полос интерференции вдоль входного зрачка прибора, в растровом же спектрометре модуляция осуществляется изменением числа полос муара на выходной диафрагме ( пределы изменения зависят от длины волны) при взаимном смещении растров; при этом центральная полоса муара все время остается светлой, остальные же полосы периодически как бы расширяются от центра и сжимаются по направлению к нему.  [40]

Сущность измерения углов интерференционным методом путем счета полос заключается в том, что в прямоугольном треугольнике с малым измеряемым углом меньший катет измеряют в длинах световых волн. Например, при измерении параллельности измерительных поверхностей микрометров интерференционным методом с помощью плоскопараллельной пластины большим катетом является диаметр измерительной поверхности микрометра, а малым - число интерференционных полос на обеих поверхностях, переведенное в микроны. При установке измеряемого клина, притертого к плоской пластинке на столике интерферометра ( например, интерферометра Кестерса, применяемого для измерения концевых мер), на свободной поверхности этого клина, как и на поверхности плоской пластины, наблюдается интерференционная картина. Измерение двугранного угла клина основано на определении числа полос на данном отрезке каждой стороны измеряемого угла.  [41]

В настоящее время интерферометры с лазерными источниками излучения достаточно хорошо разработаны и обладают большой универсальностью, что является причиной их широкого применения. Процесс измерения величины линейного перемещения интерференционным методом заключается в определении числа длин волн ( или долей длины волны) излучения лазера, укладывающихся на измеряемом отрезке, и числа интерференционных полос, проходящих через поле зрения регистрирующего прибора при перемещении объекта, изменение положения которого контролируется.  [42]

Полуколичественный метод приближенного определения функции распределения N ( z) позволяет найти оптимальное приближение для N ( z) по величине фазового сдвига, измеренного на слое плазмы, с помощью кривых, проинтегрированных для ряда симметричных функций распределения, при условии, если максимальная плотность определена из граничной частоты по пропусканию. Более точно рассматриваемая функция распределения получается экспериментальным путем при использовании трех зондирующих частот, из которых одна соответствует максимальной плотности электронов Nm, тогда как две другие выбираются примерно на 10 и 50 % выше первой; найденные для этих частот величины изменения фазовых углов по числу интерференционных полос позволяют с помощью семейства кривых, вычисленных для различных функций распределения, изучить профиль ионизации. С помощью этого метода было обнаружено, что в большинстве случаев имеет место трапецеидальное изменение плотности, которое с вполне удовлетворительной точностью описывает действительную картину.  [43]

В случае получения голографических интерферограмм в реальном времени по френелевской схеме реализуется интерференционное сравнение восстановленной волны с волной, рассеиваемой реальным предметом, поэтому изменение масштаба топографического изображения недопустимо. Если же эталонная волна формируется голограммой сфокусированного изображения, то оказывается возможным производить сравнение увеличенного топографического изображения с изображением, увеличенным во столько же раз с помощью линзовой оптики. При этом число интерференционных полос на единице площади в апертуре фокусирующей системы уменьшается в зависимости от кратности увеличения.  [44]

Длина когерентности есть то расстояние, на котором случайное изменение фазы достигает значения - я. Для получения интерференционной картины путем деления естественной волны на две части необходимо, чтобы оптическая разность хода А была меньше, чем длина когерентности. Это требование ограничивает число видимых интерференционных полос, наблюдаемых по схеме, изображенной на рис. 119.2. С увеличением номера полосы т разность хода растет, вследствие чего четкость полос делается все хуже и хуже.  [45]



Страницы:      1    2    3    4