Интенсивность - дифракция
Cтраница 1
Интенсивности дифракции или изображения также будут зависеть от температуры через фактор Дебая-Валлера, на который умножаются структурные амплитуды. В двухволновом случае это дает простое сглаженное изменение экстинкционного расстояния. В соответствии с этим коэффициенты поглощения зависят от числа и силы взаимодействующих дифракционных пучков. [1]
Поскольку интенсивность дифракции пропорциональна F ( u) 2, выражение (5.12) является удобной формой закона Фриделя, согласно которому инверсия кристалла в центре симметрии не меняет дифракционных иитенсивностей в кинематическом приближении. [2]
Для характеристики интенсивности дифракции рентгеновых лучей введем эффективное сечение ( или просто сечение) сг, определяемое как отношение интенсивности излучения, дифрагировавшего в телесный угол do1, к плотности потока энергии в падающей волне. [3]
 |
Диаграмма плавкости истемы 1 5 - 1 8-динитронаф-алин ( ДНИ. [4] |
Динитронафталина методом измерения интенсивности дифракций. [5]
В случае дифракции электронов интенсивности динамической дифракции необходимо усреднить по углу падения. [6]
 |
Дифрактограмма кварца. [7] |
Счетчик регистрирует в каждый момент времени интенсивность дифракции в узком угловом интервале. Таким образом, вся дифракционная картина ( дифрактограмма) регистрируется последовательно, а не одновременно, как в фотометоде. Типичный вид дифракто-граммы ( полученной по методу Дебая-Шерера) приведен на рис. 6.5. Каждому дифракционному пику определенной интенсивности с максимумом, соответствующим углу 9, соответствует расстояние d между определенными кристаллографическими плоскостями. [8]
 |
Дифрактограмма кварца. [9] |
Счетчик регистрирует в каждый момент времени интенсивность дифракции в узком угловом интервале. Таким образом, вся дифракционная картина ( дифрактограмма) регистрируется последовательно, а не одновременно, как в фотометоде. Типичный вид дифракто-граммы ( полученной по методу Дебая-Шерера) приведен на рис. 6.5. Каждому дифракционному пику определенной интенсивности с максимумом, соответствующим углу 0, соответствует расстояние d между определенными кристаллографическими плоскостями. [10]
Ясно, что наблюдаемая в эксперименте интенсивность дифракции автоматически усреднена по всем начальным состояниям кристалла, что эквивалентно термодинамическому усреднению вероятности рассеяния. [11]
Счетчик регистрирует в каждый момент времени интенсивность дифракции в узком угловом интервале. Таким образом, вся дифракционная картина регистрируется последовательно, а не одновременно, как в фотометоде. [12]
На рис. 3.6.7 показана временная зависимость интенсивности дифракции ( в логарифмическом масштабе) для светового зонда при различных периодах решетки от 4 7 до 8 4 мкм. Каждая кривая показывает единственный экспоненциальный спад. Время спада зависит от периода решетки. [13]
На рис. 3.6.7 показана временная зависимость интенсивности дифракции ( в логарифмическом масштабе) для светового зонда при различных периодах решетки от 4 7 до 8 4 мкм. Каждая кривая показывает единственный экспоненциальный спад. Время спада зависит от периода решетки. При увеличении периода решетки время спада Т растет. [14]
Поскольку это взаимодействие обусловлено колебаниями электронов, интенсивность дифракции на тяжелых атомах будет значительно больше, чем на более легких атомах. В результате различия в и нтенсивно стях на рентгенограмме столь велики, что по-ложение легких атомов ( например, водорода) очень трудно определить из-за маскирующей интенсивности тяжелых атомов. Если требуется установить различия в положении легких атомов или атомов с приблизительно одинаковыми атомными номерами, то необходимо применить методы, основанные на дифракции электронов или нейтронов. [15]
Страницы: 1 2 3 4