Интенсивность - отраженное излучение
Cтраница 2
Отражение - излучения является частным случаем рассеивания, поэтому с увеличением порядкового номера рассеивающего материала происходит возрастание интенсивности отраженного излучения. [16]
 |
Зеркальное отражение идеальной поверхности как функция приьелетьгко угла падения 6 / 0, для выбранных значений В / б. [17] |
Формулы Френеля относятся к случаю плоской волаьд на дающей на плоскую границу раздела, Важно понимать, что формулы Френеля лают интенсивность зеркально отраженного излучения: угол падения ранен углу отражения. Незерк льно отраженного излучения в эюм случае нет В действительное. В рентгеновском диапазоне это условие в каком-то смысле выполняется но в мягком рентгеновском и тем более в БУФ диапазонах его справедливость проблематична В же время следует иметь в виду, что поверхность реальных твердых тел даже будучи атомно гладкой имеет шероховатость, определяемую дискретной природой атомов, поэтому микроскопическую шероховатость необходимо рассматривать и мы обратимся к ней ниже. [18]
При некоторой вполне определенной толщине отражателя наступает так называемое явление насыщения, при котором, несмотря на дальнейший рост толщины отражателя, интенсивность отраженного излучения, а следовательного, и ток, создаваемый в ионизационной камере, остаются постоянными. [19]
 |
Фактор усиления Л в фокусе телескопа, отражатель ламбертовский. [20] |
Из анализа выражений для N ( Ft, 0) при произвольных значениях параметров Q, Qt [8] следует, что усиление интенсивности отраженного излучения в фокусе линзы ( / ( 2) ( /, 0) / ( 1) ( / 7t, 0), N ( Ft, 0) 2) будет происходить, если выполняются условш. [21]
Реагирующие элементы имеют высокие атомные номера, например титрование иодидов раствором соли серебра. Интенсивность отраженного излучения сначала уменьшается, а после точки стехиометричности увеличивается. [22]
В работе [44] проведено также исследование закона распределения вероятностей флуктуации интенсивности на трассе с отражением в условиях полного перехвата отражателем падающего на него излучения. Результаты экспериментального определения высших моментов и гистограмм мгновенных значений интенсивности отраженного излучения представлены на рис. 5.29 и 5.30 вместе с результатами для этих характеристик, полученными из измерений на прямых трассах. [23]
 |
Толщиномер для чего питающую ленту пропускают через весы неотраженного типа. прерывного взвешивания. [24] |
Частицы попадают на лист, и отраженная их часть поглощается ионизационной камерой. Интенсивность отражения зависит от среднего атомного веса отражающей среды и толщины листа, причем изменения интенсивности отраженного излучения пропорциональны толщине листа. [25]
Однако входящие в указанные формулы постоянные С и Сг должны быть найдены из новых граничных условий. Если к поверхности подходит излучение интенсивности / под углом arccos т ] к нормали, то интенсивность отраженного излучения будет равна / - ( т ]) /, где функция г ( т)) определяется формулой Френеля. [26]
На пути отраженного излучения ставится поглотитель, достаточный для поглощения излучения, отраженного от легких элементов. Сначала измеряется поток отраженного излучения от эталонов с известным содержанием определенного элемента и строится калибровочный график в координатах интенсивность отраженного излучения - содержание определяемого элемента. [27]
Дальнейшее развитие данного метода определения С2 ( ft) связано с применением результатов, полученных для усредняющего действия приемной апертуры на локационных трассах. Как показано в [45], при рассеянии сферической волны на точечном отражателе имеет место явление неполного усреднения флуктуации интенсивности отраженного излучения - насыщение усредняющего действия приемной апертуры. [28]
 |
Распределение относительной дисперсии сильных флуктуации интенсивности отраженной волны вдоль оси приемной оптической системы ( L / Ft 10. 1 - 3 сферическая волна. 4 - 7 плоская ВОЛНР. [29] |
Как показано на рис. 8.4 [4], при смещении плоскости наблюдения из фокуса вдоль оси оптической системы l Ft относительная дисперсия интенсивности отраженного излучения в конечном счете принимает те же значения, что и в плоскости самой линзы. Из рисунка следует также, что усиление ( ослабление) флуктуации интенсивности зависит от размеров приемной линзы. Усиление флуктуации, как и среднего значения интенсивности, становится существенным лишь при совпадении размеров источника и приемника. [30]
Страницы: 1 2 3 4