Интенсивность - отраженное излучение
Cтраница 3
Рассмотрим случай, обратный описанному выше. Излучение интенсивностью / v ( r, Q) падает на элемент поверхности со всех направлений в пределах полусферического телесного угла, а интенсивность отраженного излучения / v ( r, Q) измеряется в заданном направлении Q. [31]
Интенсивность отраженного излучения достаточно мала по сравнению с интенсивностью излучения, поглощенного веществом и прошедшего через раствор. Кроме того, в фотометрическом анализе сравнивают интенсивности излучения, прошедшего через исследуемый раствор и растворитель ( или раствор сравнения), в которых интенсивности отраженного излучения будут равны. [32]
 |
Блок-схема измерителя толщины 5250. [33] |
Действие второй группы толщиномеров основано на отражающей способности излучения. Обычно для этой цели применяются источники р-излучения. Интенсивность отраженного излучения с увеличением толщины контролируемого объекта увеличивается до тех пор, пока не будет достигнута толщина, при которой интенсивность отраженного потока уже не будет изменяться с увеличением толщины. [34]
 |
Зависимость распределения по направлениям коэффициента v r от угла tp между направлением луча и нормалью к поверхности для разных углвв падения ф.. [35] |
В теории лучистого теплообмена очень интересным и важным является вопрос о распределении по направлениям потоков отраженного излуяения. Ниже приведены некоторые данные по материалам первой из них. Выполнены опыты по распределению величин интенсивности отраженного излучения по направлениям для ряда диэлектриков и металлов. Падающее излучение представляет собой узкий лучистый поток, испускаемый абсолютно черным телом. [36]
 |
Зависимость распределения по направлениям коэффициента vV от угла р между направлением луча и нормалью к поверхности для разных углов падения ф.. [37] |
В теории лучистого теплообмена очень интересным и важным является вопрос о распределении по направлениям потоков отраженного излуяения. Ниже приведены некоторые данные по материалам первой из них. Выполнены опыты по распределению величин интенсивности отраженного излучения по направлениям для ряда диэлектриков и металлов. Падающее излучение представляет собой узкий лучистый поток, испускаемый абсолютно черным телом. [38]
 |
Отражение рентгеновских лучей от плоскостей кристалла. [39] |
Шерера используют прессованный мелкий порошок, который помещают к тонкостенную трубку и устанавливают перпендикулярно направлению рентгеновского луча. Цилиндрическая фотографическая пленка окружает эту трубку. В результате этого в определенных направлениях образуются максимумы интенсивности отраженного излучения. [40]
 |
Схема радиоактивного толщиномера проходящего типа. [41] |
В тех случаях, когда требуется замерить толщину листа резины на валке каландра, применяется так называемый толщиномер отраженного типа. В таком устройстве ji - частицы попадают на лист, и отраженная их часть поглощается ионизационной камерой. Интенсивность отражения зависит от среднего атомного веса отражающей среды и толщины листа, причем измерения интенсивности отраженного излучения пропорциональны толщине листа. [42]
 |
Схема дифференциальной ионизационной камеры. [43] |
Чашечка закрывает измерительную камеру от прямого излучения препарата, поэтому она регистрирует только отраженное излучение. Как уже сообщалось нами ранее [6], положение источника излучения относительно анализируемого образца оказывает существенное влияние на воспроизводимость результатов. Наиболее воспроизводимые результаты получаются при расстоянии около 11 мм, которое несколько больше, чем то, при котором наблюдается максимум интенсивности отраженного излучения. [44]
 |
Графики функции вероятности вы-ходного сигнала фотодетектора. [45] |
Страницы: 1 2 3 4