Интенсивность - отдельная линия - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Богат и выразителен русский язык. Но уже и его стало не хватать. Законы Мерфи (еще...)

Интенсивность - отдельная линия

Cтраница 1


Интенсивность отдельных линий при этом резко возрастает и делается сравнимой с интенсивностью возбуждающего света.  [1]

Интенсивность отдельных линий масс-спектра углеводородных образований различна. Наиболее интенсивные линии в масс-спектре сгруппированы волнообразно, чередуясь через двенадцать массовых линий. Остаточный масс-спектр создает большие затруднения при точных анализах. Выше отмечалось, что рабочее давление в ионном источнике, при котором еще сохраняется линейное соотношение между ионным током и давлением, может быть повышено не более чем до 10 - 4 мм рт. ст. Таким образом, если прибор откачан до 10 - 6 мм рт. ст., то за счет натечки газа исследуемого образца можно поднять давление в ионизационной камере источника всего на два порядка величины.  [2]

Установление зависимости содержания воды и интенсивности отдельных линий на дифрактограммах от катионного состава клиноптилолита позволило значительно повысить точность термического и рентгеновского анализов для количественной оценки содержания цеолита в породах. Кроме того, качество цеолитизированных туфов успешно определяется полевым термохимическим методом. Детально исследованы сорбционные и ионообменные свойства клиноптилолита. Изучена катион-ная специфика клиноптилолита из различных месторождений.  [3]

В этом случае коэффициентами чувствительности являются отношения интенсивности отдельных линий или суммы ряда линий к полной ионизации для каждого индивидуального вещества. Эти коэффициенты не зависят от изменений абсолютной чувствительности прибора и могут быть связаны только с изменением распределения интенсивностей линий в масс-спектрах отдельных веществ, как и в обычном относительном методе. Градуировка прибора в методе полной ионизации сводится только к регистрации масс-спектров отдельных веществ и не требуется градуировка по смесям известного состава. Более того, при анализе методом полной ионизации можно пользоваться коэффициентами чувствительности, определенными по спектрам индивидуальных веществ на любом масс-спектрометре, при условии, что распределения интенсшшостей линий в масс-спектрах отдельных веществ сохраняются.  [4]

Форма функции возбуждения часто объясняет характер изменения интенсивности отдельных линий при изменении условий разряда. Это происходит потому, что электронная температура ( а значит, и средняя скорость электронов) меняется в течение импульса. Следовательно, спектральная развертка дает ход интенсивности спектральной линии в зависимости от скорости электронов, т, е, мы получаем функцию возбуждения, но только без достаточной моно-хроматизации пучка электронов.  [5]

Количественное содержание элемента в исследуемом образце определяется путем сравнения интенсивности отдельных линий спектра этого элемента с интенсивностью линий другого химического элемента, количественное содержание которого в образце известно.  [6]

Также неудачно было объяснение сложного явления Зее-мана - количественное предсказание интенсивности отдельных линий. И, наконец, появилась чисто логическая трудность модели Бора, по которой электрон, хотя и находится на одной вполне определенной орбите и еще, может быть, на другую орбиту не перешел, но уже испытывает влияние всех тех орбит, на которые он может перейти.  [7]

Также неудачно было объяснение сложного явления Зеемана - количественное предсказание интенсивности отдельных линий. И, наконец, появилась чисто логическая трудность модели Бора, по которой электрон, хотя и находится на одной вполне определенной орбите и еще, может быть, на другую орбиту пе перешел, по уже испытывает влияние всех тех орбит, па которые он может перейти.  [8]

Например, она не дает правильного закона для соотношения между интенсивностями отдельных линий и даже не может объяснить причину появления некоторых из них. Квантовая теория дает ответ на все эти вопросы и притом ответ, совпадающий с экспериментом, но ввиду ее сложности мы здесь ее не приводим.  [9]

В [185] сделаны некоторые оценки влияния неравновесности ФР на форму и интенсивность отдельной линии в условиях оптически тонкой и оптически плотной ялазмы. В частности, показано, что при прочих равных условиях в случае немаксвелловой ФР должен иметь место более крутой спад функции источника от центра к границе плазмы; контур линии при этом сильнее самообращен, а интегральная интенсивность уменьшена. Однако вопрос о том, правомерна ли в связи с подобными выводами постановка обратной задачи о восстановлении ФР но характеристикам линейчатого спектра, по существу, в указанных работах остался открытым. Фактически большинство экспериментаторов отвечало на этот вопрос отрицательно, поскольку, например, ту или иную дополнительную дефррмацию профиля линии можно отнести за счет различных факторов, не обязательно связанных с видом ФР электронов по энергиям.  [10]

Концентрация молекул, находящихся на различных вращательных энергетических уровнях, определяет собой интенсивность отдельных линий как в чисто вращательном, так и во вращательно-колебателъном спектре.  [11]

Характерные особенности ЭПР - тонкая и сверхтонкая структура спектра, положение и интенсивность отдельных линий которого зависит от ориентации монокристалла во внешнем поле, а также от взаимодействия между электронными и ядерными магнитными моментами.  [12]

13 Среднее число атомов отдельных элементов в молекулах асфальтеновых фракций ( в расчете на 100 атомов С. [13]

ИК-спектры выделенных фракций содержат один и тот же набор полос поглощения и несколько различаются лишь по интенсивности отдельных линий.  [14]

15 Геометрия фокусирующей рентгеновской спектральной аппаратуры. а метод Кошуа, б метод Дю-Монда, в метод Иоганна, г метод Иоганссона. и - источник излучения, s - щель, К - кристалл-анализатор, О - центр окружности, пс к-рой изогнут кристалл, F - фокус для лучей одной длины волны, / - фокальная окружность, О - ее центр, D - детектор. Штриховка кристалла показывает направление отражающих атомных плоскостей.| Геометрия рентгеновского спектрометра с плоским кристаллом по Соллеру. S - источник излучения, К - кристалл-анализатор, D - детектор, С г и С. - многопластип-чатыс коллиматоры. [15]



Страницы:      1    2    3