Интенсивность - спектральная линия - элемент
Cтраница 2
Аналогичное явление отмечено при анализе сухих остатков разбавленных растворов на торцах угольных электродов [287], когда применение носителей снимало эффект усиления интенсивности спектральных линий элементов. [16]
Разрядная трубка с полым катодом все более широко применяется в спектрохимическом анализе, однако вопрос о влиянии геометрии полости ( формы и размеров) на интенсивность спектральных линий элементов, находящихся в ней, изучен сравнительно мало. [17]
При изменении геометрических размеров полости соотношение между поступлением атомов и их потерями может изменяться в широких пределах, что, очевидно, должно влиять и на интенсивность спектральных линий элементов, возбуждаемых в полом катоде. [18]
Особо важное значение имеег этот вопрос при количественном анализе растворов и минералов на присутствие какой-нибудь составной части, если остальные его составные части изменяются. Необходимо различать между зависимостью интенсивности спектральной линии элемента Е от состава вещества при равном количестве этого элемента и отношением интенсивностей двух спектральных линий элементов Е и Z. [19]
 |
Схема фотометра для эмиссионной фотометрии пламени. [20] |
В настоящее время получил всеобщее признание и находит все более широкое применение один из видов эмиссионного спектрального анализа - метод фотометрии пламени. В основе метода лежит непосредственное измерение интенсивности спектральных линий элементов, возбуждаемых в пламени, прямыми фотоэлектрическими способами. [21]
Отметим в заключение, что процессы переноса и установления равновесной концентрации частиц элементов в разных источниках света изучены еще недостаточно. Эти явления заслуживают самого пристального внимания, так как в значительной мере определяют связь между интенсивностью спектральных линий элементов и их содержанием в пробе, а следовательно, и пределы обнаружения следов элементов. [22]
Отметим в заключение, что процессы переноса и установления равновесной концентрации частиц элементов в разных источниках света изучены еще недостаточно. Эти явления заслуживают са мого пристального внимания, так как в значительной мере определяют связь между интенсивностью спектральных линий элементов и их содержанием в пробе, а следовательно, и пределы обнаружения следов элементов. [23]
При сжигании проб происходит испарение и диссоциация исследуемых веществ на атомы и ионы, которые, находясь в возбужденном состоянии, дают спектры излучения. Каждый элемент обладает специфичным спектром излучения, с характерными линиями определенной длины волны. Сравнивая интенсивность спектральных линий элементов в пробе с интенсивностью тех же линий в спектре эталонов ( стандартов) с известной концентрацией определяемых элементов, производят количественные измерения состава проб. [24]
Кривая роста может быть теоретически определена только качественно. Рассчитать значения коэффициентов b и а не удается. Это значит, что теоретически нельзя рассчитать интенсивность спектральных линий элементов и установить зависимость интенсивности от содержания. [25]
Так же как и другие методы спектрального анализа, он подразделяется на качественный и количественный анализы. Задачей качественного анализа является установление присутствия в анализируемом образце того или иного химического элемента. В задачу количественного анализа входит установление количественного содержания элемента. Это производится после определения количественной зависимости между интенсивностью спектральной линии элемента и концентрацией его в образце. [26]
Простейшим методом количественного спектрального анализа является метод, именуемый обычно методом стандарта фона. Он был впервые предложен в оптическом спектральном анализе [104] и в настоящее время часто используется для аналитических целей в этой области спектра. Он занимает промежуточное положение между методами количественного и полуколичественного анализа и так же, как и последний, не требует введения в пробу специального элемента сравнения. Внутренним стандартом при проведении анализа служит фон рентгенограммы, интенсивность которого выбирается в качестве масштаба для измерения интенсивностей спектральных линий элемента. В основе аналитической методики лежит предположение о том, что отношение интенсивности линии / л к интенсивности фона около нее / ф пропорционально искомому содержанию элемента в пробе. [27]
Страницы: 1 2