Интенсивность - спектральная линия - определяемый элемент
Cтраница 1
 |
Кривые роста. [1] |
Интенсивность спектральных линий определяемых элементов сразу же после включения дуги или искры сильно колеблется. Для этого включают дугу или искру и через каждые 5 - 10 с перемещают кассету спектрографа с фотографической пластинкой. После ее проявления по результатам фо-тометрирования спектрограммы строят кривые обжига или обыскривания, откладывая на оси ординат почернение линий 5 определяемых элементов, а по оси абсцисс - продолжительность горения дуги или искры в секундах. [2]
Как зависит интенсивность спектральной линии определяемого элемента от содержания других элементов в образце. [3]
В фотоэлектрическом методе регистрации соотношения интенсивностей спектральных линий определяемого элемента и элемента сравнения осуществляют с помощью квантометров. Металлическую пробу, состав которой следует определить, укрепляют в штативе, она служит одним из электродов, между которыми с помощью генератора возбуждается электрический разряд. Спектральный прибор разлагает излучение в спектр. Аналитические линии выделяются с помощью выходных щелей, установленных в фокальной плоскости спектрального прибора. Световые потоки линий проецируются на катоды фотоэлектронных умножителей, фототоки которых заряжают накопительные конденсаторы, и измеряются электронно-регистрирующим устройством. Выходной регистрирующий прибор выдает показания в виде логарифма отношения интенсивностей линий определяемого элемента и элемента сравнения. Аналитические графики строят в виде зависимости показания прибора от логарифма концентрации определяемого элемента в эталонах. [4]
Количественный атомно-эмиссионный анализ основан на эмпирической зависимости между интенсивностью спектральной линии определяемого элемента и кон-1 центрацией его в пробе. [5]
Количественный эмиссионный спектральный анализ основан на зависимости, существующей между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и его концентрацией. [6]
Известно, что количественный спектральный анализ основан на эмпирической зависимости между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и его концентрацией в анализируемой пробе. В число многочисленных факторов, влияющих на указанную зависимость, входит действие так называемых третьих составляющих, или сопутствующих компонентов. [7]
Благодаря тому, что химический состав пробы практически не влияет на температуру плазмы, а также благодаря полной диссоциации молекул интенсивность спектральных линий определяемых элементов очень мало зависит от общего состава пробы, а зависит лишь от концентрации определяемых элементов. Это позволяет при анализе различных проб применять одни и те же стандартные образцы и градуировочные графики. [8]
Опыт показывает, что недостаточно полное удаление аммонийных солей или небольшие загрязнения обогащенного препарата посторонними веществами могут привести к значительному ослаблению интенсивности спектральных линий определяемых элементов. Сравнение интенсивности этих линий в ослабленных спектрах с интенсивностью их же в спектре чистых эталонных смесей ( как рекомендуют Хирт и Нахтриб) может в отсутствие внутреннего стандарта привести к серьезным ошибкам в определении концентраций исследуемых элементов. [9]
Для этого в анализируемую пробу вводят определенное и постоянное количество подходящего для сравнения элемента, служащего эталоном ( например, лития), и сравнивают интенсивность спектральной линии определяемого элемента с интенсивностью линии этого эталона. Таким способом сводятся к минимуму ошибки, происходящие от источника возбуждения. [10]
Исследовано влияние различных факторов ( сила тока дуги, продолжительность возбуждения спектра, пористость графита, размеры электрода, навеска пробы, носитель) на интенсивность спектральных линий определяемых элементов. Метод использован для анализа угольного порош-ка, ТеОа, соединений щелочных металлов, а также органических веществ. [11]
Исследовано влияние различных факторов ( сила тока дуги, продолжительность возбуждения спектра, пористость графита, размеры электрода, навеска пробы, носитель) на интенсивность спектральных линий определяемых элементов. Метод использован для анализа угольного порошка, ТеО2, соединений щелочных металлов, а также органических веществ. [12]
Задачи количественного эмиссионного анализа включают измерение относительных интенсивностей спектральных линий обнаруженных элементов, что позволяет оценить их концентрацию, так как существует прямолинейная зависимость между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и содержанием его в исследуемой пробе. [13]
 |
Освещение щели растровым конденсором. [14] |
Визуальные способы регистрации спектров используют при стилоскопических и стилометрических исследованиях состава материалов, главным образом металлов. В первом случае производят визуальное сравнение интенсивностей спектральных линий определяемого элемента и близлежащих линий из спектра основного компонента пробы. [15]
Страницы: 1 2