Cтраница 2
Преимущество этого способа распыления состоит также в том, что можно регулировать поступление пробы в источник независимо от скорости потока газа, несущего аэрозоль. Эти достоинства ультразвукового - распыления способствуют увеличению концентрации частиц и интенсивности спектральных линий определяемых элементов в источнике света. [16]
Если в спектре источника возбуждения имеется линия определенного элемента, то после прохождения пламени она поглощается атомным паром этого элемента, тогда как другие линии спектра в обоих световых пучках остаются без изменения. В результате баланс световых пучков нарушается н прибор регистрирует лишь интенсивность спектральной линии определяемого элемента. Прибор описанной конструкции испытывался авторами для выделения линий натрия и рекомендован ими для применения в эмиссионном пламенно-фотометрическом анализе в тех случаях, когда имеют место спектральные помехи со стороны других элементов или фона. [17]
Найдя нужную область спектра, приступают к анализу. С помощью специальных таблиц определяют содержание анализируемого элемента путем сравнения интенсивности спектральных линий определяемого элемента с линиями основного вещества пробы. По окончании анализа прибор выключают, отпустив стерженек кнопки-включателя ( в процессе работы он должен все время удерживаться в нажатом положении), затем отключают генератор от сети. [18]
Измерение относительных интенсивностей спектральных линий обнаруженных элементов позволяет оценить их количественное содержание. Количественный эмиссионный анализ основан на прямолинейной зависимости, существующей между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и содержанием его в исследуемой пробе. [19]
Изменяя условия испарения, атомизации и возбуждения, можно влиять на интенсивность спектральных линий определяемых элементов. [20]
Эмиссионный количественный анализ - основан на изучении эмиссионных спектров ( спектра испускания или излучения) элементов анализируемого вещества. Количественное определение элементарного состава исследуемого вещества в эмиссионном анализе основано i a зависимости, существующей между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и концентрацией этого элемента в исследуемой пробе. [21]
Плазматрон чаще всего и наиболее успешно применяют для анализа растворов. При этом влияние состава пробы проявляется иначе, чем в обычной дуге. Интенсивность спектральных линий определяемых элементов сильно зависит от анионной части раствора и присутствия органических растворителей, которые существенно усиливают аналитические линии независимо от потенциала их возбуждения [ 1432, 1401; 662, стр. Механизм этих влияний еще не совсем ясен. [22]
Наличие третьих элементов в пробе также может влиять на интенсивность линий определяемого элемента. Кроме того, в пробе могут присутствовать вещества, обладающие особенно низкими потенциалами ионизации, которые резко изменяют температуру разряда. Это также приводит к изменению интенсивности спектральных линий определяемого элемента. Указанные явления, влияющие на интенсивности спектральных линий определяемых элементов, называют влиянием третьих элементов. Влияние третьих примесей особенно велико при анализе руд, состав которых очень разнообразен и часто недостаточно изучен. [23]
В ряде работ [170, 1218, 1388] применено распыление раствора ультразвуком, создающим очень однородный и мелкодисперсный аэрозоль. Преимущество этого способа распыления состоит также в том, что можно регулировать поступление пробы в источник независимо от скорости потока газа, несущего аэрозоль. Эти достоинства ультразвукового распыления способствуют увеличению концентрации частиц и интенсивности спектральных линий определяемых элементов в источнике света. [24]
Необходимость минерализации связана с тем, что присутствие органических веществ обычно влияет на условия спектрального и полярографического определения и часто мешает анализу. Например, в методе анодной полярографии с накоплением органические вещества в процессе предварительного электролиза и снятия катодно-анодной характеристики принимают участие в окислительно-восстановительных процессах на электродах, в результате чего анодные зубцы определяемых элементов могут маскироваться зубцами органических соединений. Золотовиц-кая и др. 57 установили, что присутствие диэтилдитиокар-бамината натрия снижает интенсивность спектральных линий определяемых элементов. [25]
Большое число методов измерения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий основано на использовании характеристической кривой эмульсии, которая может быть построена при помощи одного из приемов, описанных ранее. При проведении исследований, требующих большей точности, желательно строить характеристическую кривую для каждой пленки, и для ее построения пользоваться данными, снятыми с той же самой спектрограммы, по которой осуществляется количественное сопоставление интенсивностей спектральных линий определяемых элементов. В рентгеновской области спектра сопоставление почернения спектральных линий различных элементов сильно упрощается из-за практической независимости формы кривой почернения эмульсии от длины волны. [26]
Наличие третьих элементов в пробе также может влиять на интенсивность линий определяемого элемента. Кроме того, в пробе могут присутствовать вещества, обладающие особенно низкими потенциалами ионизации, которые резко изменяют температуру разряда. Это также приводит к изменению интенсивности спектральных линий определяемого элемента. Указанные явления, влияющие на интенсивности спектральных линий определяемых элементов, называют влиянием третьих элементов. Влияние третьих примесей особенно велико при анализе руд, состав которых очень разнообразен и часто недостаточно изучен. [27]
В некоторых приборах возбужденное излучение разлагается монохроматором, в других - имеется набор светофильтров, каждый из которых выделяет излучение, характерное для того или другого элемента. Интенсивность выделенного излучения измеряется фотоэлектрическим элементом. Для этого в анализируемую пробу вводят определенное и постоянное количество подходящего для сравнения элемента, служащего эталоном ( например, лития), и сравнивают интенсивность спектральной линии определяемого элемента с интенсивностью линии этого эталона. Таким способом сводятся к минимуму ошибки, происходящие от источника возбуждения. [28]