Интенсивность - лучей - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Извините, что я говорю, когда вы перебиваете. Законы Мерфи (еще...)

Интенсивность - лучей

Cтраница 2


Измерения света фотометрами, как это делал Визнер и некоторые другие ботаники, показывают относительные величины интенсивности только синих и фиолетовых лучей, действующих на фотографическую бумагу. Наиболее же важные для жизни растения желто-красные лучи таким методом не могут быть измерены. Тимирязева показали, что световые лучи, действующие на фотосинтез, совпадают с лучами, поглощаемыми хлорофиллом.  [16]

17 Схема работы пьезоэлектрической полимерной мембраны ( а и стереонаушника ( б. 1-лолиуретановая губка. 2 - ПВДФ-пленка. 3 - корпус.| Генератор ультразвуковых концентрических волн ( а и бесконтактный переключатель ( б. [17]

В четвертую группу входят детекторы и преобразователи инфракрасного излучения, детекторы интрузии, видиконы, системы для измерения распределения интенсивности лазерных лучей, аппаратура для фотокопирования, оптические генераторы на второй гармонике, детекторы отражающей способности.  [18]

19 Схема пластинки Люммера - Герке. [19]

Благодаря тому, что при каждом отражении свет почти полностью остается внутри пластинки и лишь малые части его выходят из нее, интенсивности последовательных лучей мало отличаются друг от друга.  [20]

Задача масс-анализатора двойная: во-первых, отделение ионного луча массы т от другого луча с близкой массой т - - Ляг и, во-вторых, увеличение интенсивности разрешенных лучей. Первое действие называется дисперсией, второе - фокусировкой. Электрическое и магнитное поля и их комбинация играют роль призм и линз.  [21]

Лучи различной длины волны имеют различную тушащую способность, однако каждой длине волны тушащих лучей соответствует определенная тушащая способность, но зависящая от других факторов, в частности от интенсивности тушащих лучей.  [22]

Измерение интенсивностей всех составных частей производится, например, при помощи фотоэлектронного умножителя. Интенсивность ионных лучей служит прямой мерой относительной доли изотопа в пробе.  [23]

Затем с помощью фильтров, сняв влияние активности более мягких лучей, определяют интенсивность второго изотопа, проникающая способность которого выше. Интенсивность мягких лучей определяется как разность между обоими измерениями. При этом в качестве фильтров для поглощения лучей в зависимости от их энергии могут быть использованы пластинки из слюды, алюминия или других материалов.  [24]

25 Электронная рентгеновская трубка БСВ-4. [25]

Трубка с катодом в форме плоской спирали имеет круговое фокусное пятно, трубка с катодом в форме цилиндрической спирали - линейное ( прямоугольное) пятно. В первом случае интенсивность ретгеновских лучей во всех направлениях по окружности анода одинакова; такие трубки имеют обычно четыре окна, расположенные равномерно по окружности трубки. Во втором случае лучи имеют максимальную концентрацию вдоль направлений, параллельных удлинению фокусного пятна; трубка снабжается двумя окнами, расположенными друг против друга.  [26]

Эталонная пластинка представляет собой определенной толщины алюминиевую фольгу, поглощающая способность которой, характеризуемая параметром с, определена заранее. Эталонная пластинка вводится из-за того, что определение интенсивности прямых лучей / 0 невозможно.  [27]

Ультразвуковые волны применяются также для исследования внутренних дефектов металлов ( Соколов [ г0 ]) с целью нахождения невидимых внутренних трещин и раковин. Сквозь испытуемый образец пропускается параллельный пучок ультразвуковых лучей; интенсивность прошедших лучей измеряется на противоположной стороне образца оптич. Если на пути луча лежит воздушная полость, то вследствие отражения ультразвуков на ее границе волны в этой области будут ослаблены по сравнению с соседними, где звук распространяется по металлу. Это дает возможность не только обнаружить воздушные полости, но и определить их конфигурацию. Кварцевые излучатели обладают очень высокой частотой: порядка 10 - 108 Hz. Он состоит из камеры, внутри к-рой имеется тонкий металлич.  [28]

Еще более тщательные измерения Фриша и Штерна3 обнаружили, пожалуй, наиболее замечательную особенность взаимодействия падающих молекул с твердой поверхностью, а именно: при определенном соотношении между нормальной составляющей количества движения падающих молекул и тангенциальной составляющей в плоскости одной из диагоналей, отражения и диффракции не происходит, и молекулы улавливаются силовым полем притяжения поверхности. Это проявляется в виде двух седел на нормальных максвелловских кривых распределения интенсивности диффрагированных лучей и вполне согласуется с недавними расчетами Леннарда-Джонса и Девоншира 4, рассмотревших взаимодействие периодического поля поверхности с падающими на нее атомами гелия.  [29]

30 Кривые спектрального поглощения и пропускания синтетического рубина.| Кривые спектрального поглощения некоторых хромофоров. [30]



Страницы:      1    2    3    4