Интенсивность - лучей
Cтраница 4
Голограмма образуется в светочувствительном материале ( фотопластинке или фотопленке) в процессе его экспонирования в го-лографическом световом поле и дальнейшей фотохимической обработки. Голографическое световое поле образуется в результате когерентного сложения опорной волны света, направляемой непосредственно от лазера, и объектной волны, отраженной от объекта, освещенного тем же лазером. Возникающая интерференционная картина регистрируется в виде голограммнрй структуры. При этом каждый малый элемент фотоматериала регистрирует интенсивность объектных лучей света, падающих на этот элемент, независимо для каждого направления в виде изменения оптической плотности и показателя преломления слоя. Зарегистрированная в слое голограмма обладает свойствами дифракционной решетки. [46]
Интерферированные лучи регистрируют двумя способами: фотографическим и днфрактометрическим. При фотографическом способе в специальных рентгеновских камерах на фотопленке получают рентгенограмму в виде серий линий или пятен ( рефлексов), в зависимости ov степени ориентации образца. Их расположение характеризует направление, а степень почернения - интенсивность интерферированных лучей. При дифрактометрическом способе интенсивность интерферированных лучей измеряют в рентгеновском дифрактометре, снабженном счетчиком рентгеновских квантов и самопишущим устройством; в результате получают дифрактограмму в виде кривой с рядом пиков ( рефлексов), отражающих направление и интенсивность интерферированных лучей. [47]
Сущность этого метода заключается в том, что пучок быстрых электронов направляется на исследуемый участок шлифа. Под воздействием пучка электронов атомы металла излучают характеристические рентгеновские лучи, которые затем разлагаются в спектор. Счетчик, установленный под углом Брегга, определяет интенсивность характеристических лучей, которая пропорциональна количеству атомов исследуемого элемента. По интенсивности путем сравнения с эталоном устанавливается концентрация элемента в данном участке шлифа. [48]
 |
Поле зрения при работе по методу Леблана ( изотропный. [49] |
Кольцеобразная диафрагма конденсора вырезает пучок света в форме полого конуса; этот пучок затем фокусируется на образец. Большая часть излучения проходит через образец, не отклоняясь, а небольшая часть подвергается отклонению или дифракции. Неотклоненный конусообразный пучок света собирается объективом микроскопа и проходит через более тонкую кольцеобразную часть фазовой пластинки, вмонтированной в объектив на уровне его задней фокальной плоскости. Эта часть пластинки является поглотителем света. Следовательно, интенсивность проходящего света ослабляется примерно до интенсивности дифрагирующих лучей; кроме того, его фаза увеличивается примерно на четверть длины волны. Те лучи, которые претерпевают дифракцию, также собираются объективом, но они проходят через центральную или через самую крайнюю часть фазовой пластинки. Когда неотклоненные и дифрагирующие лучи, испускаемые каждой точкой исследуемого образца, фокусируются вместе и дают изображение этой точки, вследствие интерференции они взаимно усиливаются или погашаются, благодаря чему сильно возрастает контраст между точками, показатели преломления которых отличаются незначительно. [50]
Непровар в самом наплавленном металле встречается редко, а если встречается, то, как правило, бывает весьма малых размеров. Поэтому непровары в самом шве не находят отражения на пленке. Непровар нижней кромки выявляется легче ( фиг. Особенно часто встречающимся и опасным с точки зрения прочности шва является непровар по кромке между основным и наплавленным металлом. Такой дефект трудно выявляется рентгеноснимком, так как в месте непровара ( в щели) образуется очень тонкая пленка окислов, не изменяющая интенсивности проходящих лучей. [51]
Пусть световой луч проходит сквозь призму Николя; при этом он будет линейно поляризован. Пусть этот первичный луч амплитуды А проходит сквозь двоякопре-ломляющий кристалл, тогда получается два вторичных луча, линейно поляризованных перпендикулярно друг другу. Если теперь интенсивность первичного луча уменьшится до того, что невооруженным глазом ничего нельзя будет увидеть, то все же с помощью чувствительного фотоэлемента и подходящего усиления можно наблюдать и подсчитывать пролетающие фотоны. Это простейший пример упомянутого выше статистического толкования, согласно которому вероятности определяются квадратами волновых амплитуд. Я хотел бы теперь особенно подчеркнуть, что эти вторичные амплитуды суть проекции первичных амплитуд на два направления, определенные прибором. Предсказания, которые делает теория об интенсивности расщепленных лучей или о числе содержащихся в них фотонов, имеют смысл только в отношении ко всей экспериментальной установке, николе-вой призме и кристаллу. [52]
Страницы: 1 2 3 4