Интенсивность - отражение
Cтраница 1
Интенсивность отражения зависит также от сорта атомов, образующих данную атомную плоскость, или в случае сложного тела ( сплава) от взаимного расположения атомов разного сорта в узлах кристаллической решетки. Отражения рентгеновых лучей, полученные в результате интерференции, так называемые интерференционные максимумы, связаны определенным образом с внутренним строением кристаллов и с расположением атомов в них. [1]
Интенсивность отражений для различных граней неодинакова и зависит от ряда факторов, вытекающих как из природы самого рассеяния, так и из строения кристалла и условий опыта. Изучение соотношения интенсивностей отдельных отражений играет весьма важную роль при определении структуры, о чем будет сказано ниже. [2]
 |
Схема фокусировки кри-сталл-ыонохроматором ( по Иоганну. [3] |
Интенсивность отражения лучей, для которых угол a окажется по абсолютной величине больше интегральной ширины кривой отражения кристалл-монохроматора, будет равна нулю. Следовательно, для получения максимальной интенсивности отраженного монохроматического пучка необходимо выполнение определенного оптимального соотношения между эффективной шириной фокуса и интегральной шириной кривой отражения кристалл-монохроматора. [4]
Интенсивности отражения волн от различных поверхностей будут отличаться друг от друга. [5]
Интенсивность остаточных кристаллических отражений ( 002) и ( hkl) в размолотом графите с ростом температуры уже до 2000 С быстро увеличивается, а полуширина - резко уменьшается. [6]
 |
Рентгеноструктурные характеристики сырья и продуктов Вб. [7] |
Интенсивность отражения асфальтенового сигнала ( пик D) ярко выражена для высокотемпературного образца 2 и характеризует его структуру как высококонденсированную и близкую к коксу. [8]
 |
Схематическое изображение микрофотограммы, типичной для каменных углей. [9] |
Интенсивность отражения инфракрасных лучей связана с размером частиц. Тонкая пластинка угля ( 0 13 мм) показала три области отражения 40 - 50 %; антрацит занимает промежуточное положение. [10]
Если интенсивность отражения представить как функцию угла качания 0, то получим кривую, подобную показанной на фиг. Мерой совершенства служит ширина пика. [11]
 |
Пентагидрат сульфата стрихнина.| Структура пептагидрата сульфата стрихнина. Молекулы Н2О ( 3 не показаны. [12] |
Сравнение интенсивностей отражений на рентгенограммах сульфата и селената послужило основой для определения фаз структурных амплитуд в данном исследовании. [13]
Предварительные вычисления интенсивностей отражений показывают, что мотив структуры Cs2Ca [ Fe ( CN) 6 ] аналогичен мотиву K2Cu [ Fe ( CN) e ] ( рис. 95), описанному в начале данной главы. По-видимому, центр симметрии в структуре Cs2Ca [ Fe ( CN) e ] отсутствует благодаря другим, по сравнению с K2Cu [ Fe ( CN) 6 ], координатам атомов С и N. Уточнение этого вопроса продолжается, но надежное его решение возможно будет только при исследовании структуры на монокристаллах. [14]
По изменению интенсивности отражения ( 004) с температурой разработан метод оценки качества коксов. Метод основан на том, что изменение интенсивности отражения ( 004) существенно различается для коксов разной структуры. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5