Интенсивность - отражение
Cтраница 3
 |
Градуировочный график для определения содержания Сз5 ( a, CjS ( б в клинкере. [31] |
По результатам измерений интенсивности отражений были построены градуиро-вочные графики, примеры которых для QS и CsS приведены на рис. 46, где на оси ординат откладывалась массовая доля соответствующего минерала в эталонной смеси, выраженная в %, а на оси абсцисс - величины отношения интенсивности аналитических линий минерала и эталона - флюорита. С помощью этих графиков был проведен количественный фазовый анализ ряда клинкеров. [32]
 |
Внешний вид спектрофотометра фирмы Opton KM3 для массовых измерений отражения, пропускания, одновременного измерения интенсивности отражения и пропускания, а также. [33] |
Для одновременного измерения интенсивности отражения и пропускания второй фотоумножитель укреплен со стороны подложки. Сигналы фотоумножителей, регистрирующих прошедший и отраженный свет, складываются. [34]
 |
Влияние затухания на спектр отражения. [35] |
Влияние константы затухания на интенсивность отражения иллюстрирует рис. 8.5. Поскольку учет затухания производится в ангармоническом приближении, подробно этот вопрос будет рассмотрен в разделе, посвященном ангармоничности. [36]
Он формулируется так: интенсивность отражения от плоскостей hkl и - hkl не различаются для всех видов симметрии, входящих в лауэс-кую группу. Очень точно и другое определение [28], стр. [37]
Было замечено, что интенсивность отражения при больших углах быстро падает; при углах выше 120 ( 26) она очень мала. Применение кристалла для длин волн много больших величины d нежелательно. При малых углах установок с плоским кристаллом кристалл должен быть достаточно длинным, чтобы все излучение, выходящее из коллиматора, попало на кристалл. [38]
Правильно ли использовать измерение интенсивности отражения HK. [39]
Описываются результаты исследования зависимости интенсивности отражения рентгеновских лучей от степени совершенства кристаллов фокусирующих монохроматоров. Приводятся аналитические условия оценки оптимальных параметров мозаичности ( размер и угол разориентировки блоков), которым должен удовлетворять кристалл-монохроматор для получения максимальной интенсивности отражения. [40]
Для определения термического коэффициента изменения интенсивности отражения ( 004) по предлагаемому способу исследуемые образцы помещают в камеру высокотемпературной приставки рентгеновского дифрактометра, нагревают со скоростью не более 20 град / мин, например, до 1800 С и выдерживают при этой температуре в течение 1 часа. По мере охлаждения через каждые 100, 200 или более С при идентичных условиях снимается дифрактограмма исследуемого образца. [41]
Предполагается, что при измерении интенсивности отражений кристалл целиком облучается первичным пучком с одинаковой интенсивностью по всему сечению. Это накладывает ограничения на размер кристалла, поскольку его сечение должно быть меньше сечения рентгеновского пучка, диаметр которого составляет около 0 7 мм. [42]
При этом происходит резкое увеличение интенсивности отражения 530 в бариевой форме. Зависимость интенсивности линии 200 от степени замещения является линейной. Резкое уменьшение интенсивности отражения 200 природного морденита происходит из-за миграции обменных катионов из плоскости симметрии, перпендикулярной оси а. Данный эффект может быть также, как и в клиноптилолите [3], связан со значительными напряжениями в алюмокремнекислородной матрице цеолита, обусловленными вхождением более крупных и тяжелых катионов во внутри-кристаллическое пространство. [43]
Следует отметить, что изменение интенсивности отражения при 4 4 - - 3 9 А для. [44]
По значениям критерия г можно оценить интенсивность отражения волны от стенки: при г 0 1 волна полностью разрушается на стенке без отражения; при 0 1 г 0 5 происходит незначительное отражение волны; при 0 5 г 1 наблюдается значительное отражение волны; при г 1 волна не разрушается, происходит полное ее отражение. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5