Cтраница 3
![]() |
Сигнализатор пламени Сириус. [31] |
Для контроля чистоты защитного стекла 2, а также для проверки исправности всего оптико-электрического тракта сигнализатора светодиод 5 периодически дает короткие вспышки инфракрасного излучения, которые через конденсор 4, стекло 2, зеркальный отражатель / и снова через стекло 2 попадают на фоторезистор, обеспечивая срабатывание всего оптико-электрического тракта, хотя выходной сигнал сигнализатора на это короткое время контроля блокируется. [32]
![]() |
Блок-схема прямого. [33] |
Принцип рассматриваемого измерения заключается в следующем: вибропараметр подшипника ( или вала) преобразуется в электрические импульсы, которые управляют короткими вспышками газосветной ( стробоскопической) лампы. Это приводит к простой и надежной электронной схеме формирователя импульсов. [34]
![]() |
Влияние кислорода на фотоэдс ZnO при кратковременных непрерывных освещениях. [35] |
При включении непрерывного освещения происходит немедленное спадание фотоэдс, которое столь же быстро обратимо восстанавливается после выключения света, если измерять фотоэдс короткими вспышками. Такой ход процесса был установлен в присутствии кислорода давлением 0.5 и 20 мм рт. ст. и при различных уровнях освещения. [36]
Чтобы применить ту же методику к измерению времени жизни флуоресценции, которая обычно лежит в области 10 - 8 сек, необходимы значительно более короткие вспышки. [37]
Принцип действия поточного ультрамикроскопа заключается в том, что частицы, содержащиеся в исследуемом объеме, в момент прохождения через ярко освещенную зону в кювете дают короткие вспышки на темном поле, фиксирующиеся наблюдателем при помощи микроскопа. [38]
Для низкочастотной модуляции ( 100 - 1000 гц) подходят два первых способа, но для исследования быстро-протекающих процессов они практически не пригодны, и здесь применяются лампы с короткой вспышкой или лазеры. [39]
Для отделения газовых реакций, вызванных освещением ультрафиолетовым светом данной системы, от влияния на фотоэдс только адсорбции, протекающей в темноте, были проведены сравнительные измерения: в одних после напускания газов свет включался только короткими вспышками длительностью 10 сек. [40]
В ряде отечественных ( типа БС, ДБН, 9703, 9710 и др.) и зарубежных балансировочных станков с двумя подвижными опорами применяется отметка угда дисбаланса с помощью стробоскопа путем наблюдения меток на вращающемся роторе, освещаемом один раз за оборот короткими вспышками света от неоновых и специальных импульсных ламп или строботронов. Момент вспышки связан с определенной фазой колебаний. Замечая положение меток на роторе относительно визира стробоскопа, ставят остановленный ротор в такое же положение и против визира находят угол дисбаланса. На станках типа UA и МДБ-1А угол дисбаланса определяют не по меткам на роторе, а по специальной шкале на шпинделе привода балансировочного стайка. [41]
![]() |
Отражение звукового.| Прохождение звукового импульса через цилиндрическую стенку с отверстиями. [42] |
Если резкий звуковой импульс распространяется между чегкалом и источником света ( например, вспышкой от ектрической искры), то на фотопластинке можно за - d иксировать изображение звуковой волны, возникшее на экране. Электрическая искра дает чрезвычайно короткую вспышку; скорость же света неизмеримо больше скорости звука, о величине которой мы будем говорить ниже. [43]
Стробоскоп - прибор для определения числа оборотов какого-либо вращающегося механизма, основанный на использовании стробоскопического эффекта, который заключается в следующем. Если вращающееся тело освещать короткими вспышками света точно через период вращения тела, то оно будет казаться неподвижным, так как будет освещаться каждой вспышкой в одном и том же положении. [44]
Концентрация вещества пробы в газовом облаке дуги зависит не только от силы тока, но и от длительности разряда и пауз переменного тока. При длительных паузах и коротких вспышках поступление материала пробы в дуговой разряд происходит менее интенсивно. Изменяя параметры высокочастотного контура ( активизатора) дуги переменного тока и силу тока, можно влиять на интенсивность поступления вещества пробы в дуговой разряд. [45]