Интенсивность - рефлекс
Cтраница 1
Интенсивность рефлексов определяется по десяти - или стобалльной шкале. На рентгенограмме находят дужки с наибольшим почернением фотопленки и оценивают их интенсивность в 10 баллов и самые слабые дужки, интенсивность которых определяют в 1 балл, интенсивность всех остальных дужек оценивается визуально по сравнению с первыми и вторыми. [1]
Интенсивность рефлексов при рентгеновской дифракции на практике определяется с достаточной степенью точности количественно. На интенсивность рефлексов влияет ряд факторов, вклад которых можно оценить теоретически. Рассмотрим эти факторы последовательно. [2]
Интенсивность рефлексов на МДК сравнима с интенсивностью прямо прошедшего пучка, поэтому в результате взаимодействия последнего с дифрагированными пучками по мере прохождения их сквозь кристалл ( многократного рассеяния) происходит усреднение интенсивностей рефлексов. Вследствие этого затрудняется определение структурного фактора по относительным интенсивностям отражений с использованием обычных формул кинематической теории. [3]
Интенсивности рефлексов электронограмм определяют обычно измерением почернений на негативе. [4]
Интенсивность малоугловых слоевых рефлексов, существование которых обусловлено чередованием кристаллических и аморфных участков, на рентгенограммах этих пленок очень мала, а иногда рефлексы вообще отсутствуют. Однако этот факт не может служить доказательством отсутствия периодического расположения кристаллических и аморфных областей, поскольку снижение интенсивности малоуглового рассеяния может быть вызвано целым рядом других причин, например, разбросом значений большого периода и др. ( стр. [5]
 |
Интерпретация изменения амплитуды и фазы с помощью теории комплексных чисел. [6] |
Поскольку интенсивность рефлекса hkl определяется, прежде всего, разностью фаз составляющих рефлексов всех простых решеток, входящих в сложную ( или, иначе говоря - всех атомов, составляющих базис), следует остановиться на методе определения разности фаз путем расчета. В основе его лежат уравнения и формулы теории комплексных чисел, которые мы очень коротко напомним. [7]
Поэтому интенсивность рефлексов резко снижается при их удалении от центра электронограммы. Также резко изменяется интенсивность фона. Следует отметить неоднородное изменение интенсивности фона, обусловленное рассеянием электронов в пленке-подложке и некогерентным рассеянием в образце. [8]
 |
Рентгендифрактограммы Pd. [9] |
Проблема интенсивности рефлексов имеет два аспекта: точное измерение интенсивностеи и их расчет из атомных и решеточных характеристик. [10]
Расчет интенсивности рефлекса hkl данной кристаллической сложной решетки может осуществляться двумя путями. Если он равен 2л, рефлексы разных подрешеток совпадают по фазе и суммарный рефлекс является интенсивным. Если в решетку входят разные атомы ( и в других случаях), расчет осуществляется на основе вышеприведенных уравнений. [11]
Оценка интенсивностей рефлексов на рентгенограммах и последующая их математическая обработка. Эта стадия требует во много раз большего труда, чем первая. Но в результате получают величины всех межатомных расстояний ( с точностью до 0 01 А) и всех валентных углов ( с точностью до 0 5) в молекуле изучаемого вещества. [12]
Индексы обозначают интенсивность рефлексов на электропограмме: ос - очень сильная, с - сильная, ср - средняя, ел. [13]
 |
Элементарная ячейка целлюлозы 1 по Мейеру и Мишу. [14] |
Теоретический расчет интенсивности рефлексов на рентгенограммах, сделанный для структуры целлюлозы I с указанными параметрами, дает удовлетворительную сходимость с экспериментальными данными. [15]
Страницы: 1 2 3 4