Cтраница 2
Напишите уравнение интенсивности рефлексов и объясните, от чего зависят факторы ( множители): угловой, структурный, температурный, абсорбционный, повторяемости. [16]
Напишите уравнение интенсивности рефлексов и объясните, от чего зависят факторы ( множители): угловой, структурный, температурный, абсорбционный, повторяемости. [17]
Полная интерпретация интенсивности рефлексов на рентгенограмме дана Бунном [12]; интенсивности, рассчитанные по предполагаемому расположению атомов, хорошо согласуются с наблюденными интенсивностями. Как выведена схема структуры, в деталях не приводится, но следует отметить два обстоятельства. Во-первых, предлагаемая молекулярная конфигурация, согласующаяся с периодом, вытекающим из рис. 3, не принята априорно; из истолкования проекции, нормальной к оси с ( в которой молекула видна с конца), при непредубежденном рассмотрении возможных положений атомов получается вывод, что никакое плоское расположение молекул не может удовлетворить картине интенсивностей hkO рефлексов и что этой картине может отвечать только такое расположение, при котором центры атомов углерода каждой молекулы расположены примерно в местах, указанных на рис. 3, так что четыре атома цепи лежат в углах параллелограма. Такое соответствие со стереохимическими требованиями, полученное независимо из строгого рассмотрения интенсивностей рентгенограммы, является доказательством правильности схемы даже для сравнительно малого количества рефлексов на экваториальной линии рентгенограммы. [18]
Метод измерения интенсивностей рефлексов для определения положений атомов в элементарной ячейке, описанный в разделе Зз, совершенно неприменим за исключением тех случаев, когда рентгенограммы волокна необычайно резки. Это не значит, что невозможно предложить подробную структуру полимерного волокна, так как, объединив даже самые скудные данные рентгенографического анализа с разумными предположениями, можно получить подходящую гипотетическую структуру. В частности, можно использовать тот факт, что межатомные расстояния и углы между связями очень мало изменяются в гомологическом ряду. Можно предположить, что эти параметры имеют почти одинаковые величины в полимерных молекулах и в молекулах соответствующих низкомолекулярных веществ, для которых они точно установлены. Используя эти величины в сочетании с размерами элементарной ячейки ( по крайней мере один из размеров ячейки известен), зачастую можно найти очень небольшое количество возможных структур. [19]
![]() |
Схематическое представление ламел-2 лярной структуры ( точки - растворитель.| Схематическое представление гексагональной и обратной гексагональной структур. [20] |
Однако измерение интенсивностей малоугловых рефлексов затруднительно и не совсем точно, в связи с чем этот метод используется редко. [21]
![]() |
Зависимость малоуглового рассеяния. [22] |
Тогда изменению интенсивности малоугловых рефлексов может быть дана простая интерпретация. Накапливаясь в аморфных прослойках, между кристаллитами, иод увеличивает их среднюю плотность. При небольших концентрациях его плотность аморфных участков, возрастая, приближается к плотности кристаллитов, и интенсивность рассеяния падает. Далее суммарная плотность полимера и иода в аморфных областях начинает превышать плотность кристаллитов, и рассеяние снова возрастает. [23]
А) и интенсивности рефлексов в малоугловой области дифрактограмм комплексов свидетельствует о том, что порядок взаимодействия, свойственный одному комплексу, повторяется в структуре другого комплекса. [24]
![]() |
Фазовые соотношения в системе SrO - - CuO - La2O3. 1 - . u2Oe -., где. [25] |
Межплоскостные расстояния и интенсивности рефлексов приведены в таблице. [26]
А) и интенсивности рефлексов в малоугловой области дифрактограмм комплексов свидетельствует о том, что порядок взаимодействия, свойственный одному комплексу, повторяется в структуре другого комплекса. [27]
Исследована температурная зависимость интенсивности брегговских рефлексов сплавов твердых растворов системы In Qai - xSb при температурах 293, 373 и 453 К. По полученным данным подсчитывались среднеквадратичные динамические смещения ионов и соответствующие им характеристические температуры в решетке твердого раствора In Gaj. [28]
![]() |
Изменение дифракционной картины от слоя iNaCl / Nad с увеличением толщины осадка. [29] |
С увеличением толщины слоя интенсивность рефлексов от сдвойникованных кристаллов увеличивается. [30]