Cтраница 3
![]() |
Детекторная характеристика диода ( а, ВАХ при динамическом пробое ( б и ВАХ при переходе динамического пробоя в статический ( в. [31] |
Измерение интенсивности первых четырех гармоник в камере ЗП показало, что пренебречь гармониками высших порядков по сравнению со второй и третьей нельзя. Шлейфы по второй и третьей гармоникам приводят к перераспределению мощности между последующими гармониками, при этом высшие гармоники могут оказаться больше предыдущих. Рн) при I / CMconst, от малых положительных значений до максимального и далее до нулевого амплитуды гармоник монотонно растут и увеличиваются в 2 - 3 раза. Рк const от 200 мкА до / ДМакс при пробое и далее до / д0 интенсивность наблюдаемых гармоник практически не меняется. В области А ( рис. 2 6) они немного убывают и далее с ростом С / см продолжают убывать до статического пробоя. [32]