Многолучевая интерференция

Cтраница 3

Широкие возможности повышения чувствительности измерения разности хода открывает многолучевая интерференция. [31]

Этот недостаток в какой-то мере компенсируется переходом к многолучевой интерференции, приводящей к сужению интерференционных максимумов и резкому увеличению их интенсивности. Для перехода к многолучевой интерференции пользуются системой многих слоев, нанесенной на отражающую поверхность. В результате удается получить коэффициент отражения R ж 0 99, что особенно важно в лазерной технике. Для получения такого высокого коэффициента отражения на поверхность стекла наносят 11 - 13 слоев. [32]

Визуальные методы измерений. [33]

Принципиально иные возможности повышения чувствительности открываются при использовании многолучевой интерференции. [34]

Чалых и Ва-сенин использовали для этой цели метод многолучевой интерференции, дозволяющий определить инкремент показателя преломления на одну полосу интерференционной картины и, таким образом, следить за динамикойхпроцесса диффузии растворителя в полимер. [35]

Таким образом, система расширенного спектра эффективно устраняет многолучевую интерференцию за счет корреляционного ( по коду) приемника. Хотя наличие введенной каналом ISI обычно не заметно для систем DS / SS, такие системы подвержены потерям энергии, содержащейся в многолучевых компонентах, отклоняемых приемником. В этом приемнике каждому многолучевому компоненту выделяется отдельный коррелятор. Приемник когерентно суммирует энергию каждого луча, избирательно задерживая их ( более ранние компоненты задерживаются дольше) таким образом, чтобы они объединялись когерентно. [36]

Мульпшми ( Иогансон, Эскильстуна) основан на принципе многолучевой интерференции, дает при этом наиболее ясную интерференционную картину. Сведения о применении в производстве отсуствуют. [37]

В приборе не предусмотрена возможность наблюдения полос, образованных при многолучевой интерференции. Для наблюдения многолучевой интерференционной картины вместо прозрачной образцовой пластины необходимо установить пластину, нижняя поверхность которой покрыта полупрозрачным слоем серебра или диэлектрика. Соответственно этому и контролируемая поверхность должна обладать значительно более высокой отражающей способностью, чем поверхность стекла. Если контролируются прозрачные поверхности, то на них должен быть нанесен отражающий слой. [38]

Для повышения точности метода пробных стекол при контроле плоскостей используют многолучевую интерференцию в виде полос равного наклона. Интерференционная картина наблюдается от тонкого воздушного слоя между контролируемой и эталонной поверхностями, каждая из которых покрыта отражающим слоем. Метод пробных стекол удобно применять для небольших по размерам поверхностей. [39]

В светофильтре в результате многократных отражений луча от полупрозрачных слоев происходит многолучевая интерференция. [40]

Эти границы разрешения при определенных условиях могут быть достигнуты при помощи многолучевой интерференции без фотометрн-ровакпя и даже превзойдены в некоторых конструкциях иитерферен - яон. [41]

Эту формулу можно получить и непосредственно, применяя критерий Рэлея к многолучевой интерференции воли, дифрагировавших от отдельных штрихов. [42]

Если положить, что оценка смещения полосы в обоих случаях одинакова, то многолучевая интерференция позволяет повысить точность измерений в Л / фф / 2 раз по сравнению с двухлучевой. [43]

Наряду с интерференционными светофильтрами распространен целый ряд устройств, также основанных на принципе многолучевой интерференции. [44]

Заметим, что показать эти важные в учебном плане закономерности перехода от двухлучевой ко многолучевой интерференции другими способами не представляется возможным, и в этом отношении, в сочетании с простотой, надежностью и светосильностью демонстрации, опыты со сложными диффузорами приобретают особый интерес. [45]

Страницы: 1 2 3 4