Дифракция - рентгеновское излучение
Cтраница 1
 |
Дифракционный пик и его характеристики. [1] |
Дифракция рентгеновского излучения в монокристаллах рассматривается в литературе в приближении классической электродинамики как рассеяние электромагнитного излучения в среде с трехмерно-периодическим распределением электронной плотности. [2]
Геометрическая теория дифракции рентгеновского излучения, ( лектронов и нейтронов имеет много общего. Почти одинаковы и математические основы применяемых методов расчета. Рентгеновские лучи рассеиваются электронными оболочками; электроны взаимодействуют с электростатическим потенциа-юм атомов, а нейтроны рассеиваются ядрами. Рассеяние рентгеновских лучей, электронов и нейтронов по-разному зависит от атомного номера элемента. Для электронов такая зависимость выражена слабее, чем для рентгеновских лучей, между рассеянием нейтронов и атомным номером элемента явная зависимость не наблюдается. Поэтому в электроне - и нейтронографии легче определить положение легких атомов в решетке в присутствии тяжелых, так как в рентгенографии тяжелые атомы дают наибольший вклад в амплитуду рассеяния, а влияние легких атомов незначительно и их трудно выявить. [3]
Особый интерес представляет дифракция рентгеновского излучения в поликристаллических образцах, состоящих из множества мелких кристалликов, хаотически ориентированных друг относительно друга. [4]
Особый интерес представляет дифракция рентгеновского излучения в поликристаллических образцах, состоящих из множества мелких кристалликов, хаотически ориентированных друг относительно друга. [5]
На рис. 34.1 показана картина дифракции рентгеновского излучения для жидкой и кристаллической ртути. Картина, наблюдаемая для кристаллической и для разбавленной газообразной ртути, почти не зависит от температуры и давления. При возрастании температуры и ( или) давления наблюдается лишь незначительное уширение линий. [6]
Использованные в предыдущих разделах формулы для дифракции рентгеновского излучения, в частности формулы расчета интенсивностей линий, выведены для идеально-мозаичных кристаллов, когда для реального кристалла предполагается модель, по которой они содержат области с совершенной структурой ( области когерентного рассеяния, ОКР), несколько разориентированные друг относительно друга. [7]
Уже в первых работах по исследованию дифракции рентгеновского излучения на внедренных в бакелитовую матрицу аэрозольных частицах Pb ( D та 200.4 [512, 564], Sb, Bi, Sn ( D 250 A [512]), Cm ( Д - р 272 и 1300 А), Аи ( Zcp 234 и 950 A) [565] было обнаружено аномальное ослабление рассеянного излучения с ростом температуры. [8]
Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы начальных фаз, наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографиче-ского. Во втором издании расширены ключевые разделы современного реитгеноструктуриого анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз ( знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. [9]
Именно этим обстоятельством определяется возможность применения дифракции рентгеновского излучения для определения структуры молекул в кристаллах. Кристаллы, построенные из сложных молекул, дают очень сложную картину распределения интенсивностей отдельных рефлексов. Однако по ней можно полностью восстановить расположение отдельных атомов в элементарной ячейке и тем самым установить полную пространственную структуру молекул, из которых построен кристалл. Используя некоторые дополнительные приемы и применяя для расчетов быстродействующие электронно-вычислительные машины, удается получить пространственную структуру даже таких сложных молекул, как белки и Ч1уклеиновые кислоты. [10]
Именно этим обстоятельством определяется возможность применения дифракции рентгеновского излучения для определения структуры молекул в кристаллах. Кристаллы, построенные из сложных молекул, дают очень сложную картину распределения интенсивностей отдельных рефлексов. Однако по ней можно полностью восстановить расположение отдельных атомов в элементарной ячейке и тем самым установить полную пространственную структуру молекул, из которых построен кристалл. Используя некоторые дополнительные приемы и применяя для расчетов быстродействующие электронно-вычислительные машины, удается получить пространственную структуру даже таких сложных молекул, как белки и Ч1уклеиновые кислоты. [11]
Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы начальных фаз, наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографиче-ского. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз ( знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. [12]
В работе [207] с помощью методов дифракции рентгеновского излучения высокой мощности и ИК-спектроскопии при низких температурах показано, что зарождение малых кристаллических зон в полиэтилене происходит благодаря выходу дефектов за границу паракристаллов. [13]
На рис. 67 изображена установка для наблюдения дифракции рентгеновского излучения. При вращении кристалла С только тот луч будет отражаться на фотографическую пластинку В, длина волны которого удовлетворяет уравнению Вульфа - Брэгга. При каком наименьшем угле а между плоскостью кристалла и пучком рентгеновских лучей были отражены рентгеновские лучи с длиной волны К - 20 пм. Постоянная решетки кристалла d 303 пм. [14]
По своей постановке эти опыты были аналогичны осуществлению дифракции рентгеновского излучения по методу Дебая - Шеррера. [15]
Страницы: 1 2 3 4