Cтраница 2
Почему на кристаллах не наблюдается дифракция видимого света и наблюдается дифракция рентгеновского излучения. [16]
Уникальным методом определения структуры является рент-геноструктурный анализ, основанный на дифракции рентгеновского излучения при рассеянии на кристалле вещества. С помощью этого метода можно получить данные о точном пространственном расположении атомов в молекуле исследуемого вещества, о длинах связей между атомами и углах между связями. [17]
В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой даны приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и элек-троно графического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых в нашей стране. [18]
В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой глаЪе даны наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтроногра-фического и электронографического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых-в нашей стране. [19]
В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой главе даны наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтроногра-фического и электронографического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых в нашей стране. [20]
Особенно отличаются ( в сторону завышения) величины ККМ, определенные дифракцией рентгеновского излучения, в связи с тем, что этот метод фиксирует возникновение пластинчатых мицелл, не реагируя на присутствие в растворе мицелл сфероидального типа. [21]
Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения - поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 - 2 - 102 А. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядочение расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [22]
Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения - поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 - 2 - 102 А. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядоченно расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [23]
Первоначально для выделения аналитической линии использовался лишь кристалл-дифракционный метод 9J, основанный на дифракции рентгеновского излучения на кристалле-анализаторе. Достижения в области радиоизотопных источников, специальных маломощных рентгеновских трубок, спектрометрии рентгеновского излучения позволили разработать бескристальные методы обеспечения спектральной избирательности, отли чающиеся существенной аппаратурной простотой. [24]
Наличие в жидкости пространственного упорядочения молекул подтверждается экспериментальными данными по рассеянию света, дифракции рентгеновского излучения, нейтронов и электронов. Рентгеноструктурные исследования показали, что в жидкостях, состоящих из многоатомных молекул, наблюдается не только упорядоченное расположение молекул, но и известная закономерность во взаимной ориентации частиц. Эта ориентация усиливается для полярных молекул и при формировании водородной связи. Однако, как видно на рис. 21, только в окрестности данной частицы наблюдается закономерное расположение соседних частиц. При удалении от рассматриваемой частицы А на расстояние порядка 10 атомных расстояний закономерное расположение частиц нарушается. [25]
Дифракция света, удовлетворяющая условию (9.2.4), называется брэгговской дифракцией по аналогии с дифракцией рентгеновского излучения в кристаллах. Для того чтобы оценить порядок величины угла в, рассмотрим случай дифракции света с длиной волны X 0 5 мкм на звуковой волне частотой 500 МГц. Условие брэгговской дифракции (9.2.4) найдено в предположении, что периодическое возмущение неподвижно относительно светового пучка. [26]
Соотношение (6.4.18) называют также условием Брэгга, поскольку оно совпадает с аналогичным условием для дифракции рентгеновского излучения в кристаллах. Постоянная ( 3 является составляющей волнового вектора, перпендикулярной соответствующим кристаллическим плоскостям. [27]
РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ, РЕНТГЕНОВСКИЙ анализ [ см. структура ] - метод изучения строения веществ по дифракции рентгеновского излучения на атомных решетках; широко примен. [28]
В работе [204] представлены данные о молекулярном движении в кристаллах полиэтилена, полученные методом дифракции рентгеновского излучения. [29]
Русский физик Г. В. Вульф и английский У. Л. Брэгг независимо друг от друга предложили ( 1913) простой метод расчета дифракции рентгеновского излучения в кристаллах. Это отражение, в отличие от обычного, осуществляется лишь при таких условиях падения лучей на кристалл, которые соответствуют интерференционным максимумам для лучей, отраженных от разных плоскостей. [30]