Дифракция - рентгеновские лучей
Cтраница 1
Дифракция рентгеновских лучей наблюдается в газах, жидкостях и аморфных веществах, наиболее четко она проявляется на кристаллах. На дифракции рентгеновских лучей кристаллами основаны разработанные позднее рентгеноструктурный и рентгенофазо-вый методы, анализа. Суть дифракции рентгеновских лучей заключается в сложении амплитуд вторичных волн, рассеянных электронами, образующими электронные оболочки атомов исследуемого вещества, без изменения частоты колебаний. [1]
 |
Схематическое изображение молекул ферритина, содержащего почти. [2] |
Дифракция рентгеновских лучей с большими углами рассеяния дает как отпечатки одиночных кристаллов, благодаря наличию правильной решетки у молекул белка, так и дифрактограммы Дебая-Шеррера от ядер. [3]
Дифракция рентгеновских лучей, Рентгеновский структурный анализ, Спектральный рентгенокский анализ, Спектроскопия рентгеновская. [4]
Дифракция рентгеновских лучей является важнейшим и непосредственным доказательством их волновой природы. [5]
Дифракция рентгеновских лучей дает наибольший эффект при применении к ориентированным образцам. В случае полисахаридных пленок обычно встречаются три типа ориентации: произвольная, фибриллярная и одноплоскостная. [6]
Дифракция рентгеновских лучей в кристалле обусловлена, в конечном итоге, рассеянием их электронами атомов. [7]
Дифракция рентгеновских лучей в больших углах дает информацию, полезную при идентификации полимерных кристаллов, их размера и совершенства; анализе ориентации кристаллитов, определении типа и степени ориентации кристаллитов, изучении степени кристалличности ( % с) ( разд. [8]
Дифракция рентгеновских лучей представляет собой уникальный метод для изучения гидратации неорганических, органических и смешанных систем. Так, Перноле и Жерар [69 ] приводят результаты изучения гидратов этана и этилена. Было установлено, что гидрат этилена образуется при температуре от - 1 до - 21 С и давлении 20 - 24 бар. Образование гидрата этана происходит в интервале температур от - 2 до - 6 С и при давлениях 5 - 15 бар. Ван-Ольфен и Дидс [87] сообщают о ступенчатой гидратации комплексов бентонита с пиридином и с а-пико-лином. [9]
Дифракция рентгеновских лучей от кристаллов находит два основных применения. [10]
Дифракция рентгеновских лучей и электронов относится к числу наиболее широко используемых методов изучения структуры кристаллических твердых тел. Данные рентгеноструктурного анализе порошков и монокристаллов приводятся во многих работах по цеолитам. [11]
Дифракция рентгеновских лучей под малыми углами для ориентированных полимеров ( ось ориентации вертикальна, первичный пучок направлен перпендикулярно оси ориентации полимеров): а - аморфный полимер - по-лиметилметакрилат ( вытяжка в 2 5 раза, малоугловые рефлексы отсутствуют); б - кристаллич. [13]
Дифракция рентгеновских лучей в жидкостях отличается от их дифракции в кристаллах. На рентгенограмме жидкости, полученной фотографическим методом, при длительных экспозициях вместо резких интерференционных линий, характеризующих структуру кристаллической решетки, обнаруживаются широкие дифракционные полосы с размытыми краями. При фотомет-рировании рентгенограмм получаются кривые интенсивности с несколькими максимумами. Расчетным путем по кривым интенсивности определяют ближний порядок атомов в жидкости. [14]
Дифракция рентгеновских лучей при их прохождении через вещество позволяет получить представление о взаимном расположении атомов вещества. Эта задача решается строго и практически однозначно в отношений характеристик дальнего порядка как простого, так и сложного по составу, но упорядоченного кристаллического вещества. Анализ центрального или малоуглового рассеяния позволяет исследовать неоднородности в распределении электронной плотности как в случае агломерата высокодисперсных частиц с произвольной внутренней структурой, так и в случае пористого тела ( кристаллического или аморфного), содержащего включения или, наоборот, пустоты. [15]
Страницы: 1 2 3 4