Дифракция - рентгеновские лучей
Cтраница 2
Дифракция рентгеновских лучей включенными молекулами, меченными тяжелыми отражающими атомами ( например, атомами галогенов), непосредственно указывает на канальное расположение молекул и позволяет, к тому же, определять периодичность включений гостевого компонента, которая может и не находиться в простой зависимости с периодичностью структуры три-о-тимотида. [16]
Дифракция рентгеновских лучей имеет место как при прохождении их через кристалл, так и при отражении от него. Условие, необходимое для дифракции рентгеновских лучей, можно получить исходя из следующих соображений. [17]
Дифракция рентгеновских лучей в кристалле является результатом когерентного рассеяния лучей электронами атомов кристаллической решетки. [18]
Дифракция рентгеновских лучей, интерпретируемая без сочетания с данными других методов. Исследования углей определяют размеры небольших, расположенных в упорядоченных группировках ароматических ядер, но без уточнения того, относятся ли они к одной или к нескольким различным молекулам. [19]
Дифракция рентгеновских лучей - наиболее распространенный метод исследования кристаллизации. [20]
 |
Проекция ядерной плотности кристаллич структуры дейтерированного ди-циандиамида С2М4О4 Пунктиром соединены атомы, связанные водородной связью. [21] |
Дифракция рентгеновских лучей используется также для изучения дефектов в кристаллах ( в рентгеновской топографии), исследования приповерхностных слоев ( в рентгеновской спектрометрии), качеств, и количеств, определения фазового состава поликристаллич. [22]
Дифракция рентгеновских лучей в больших углах дает информацию, полезную при идентификации полимерных кристаллов, их размера и совершенства; анализе ориентации кристаллитов, определении типа и степени ориентации кристаллитов, изучении степени кристалличности ( хс) ( разд. [23]
Дифракция рентгеновских лучей на микронеоднород-ностях, дефектах и доменных стенках позволяет наблюдать и сопоставлять особенности неоднородностей структуры с особенностями доменного строения. Вместе с тем представляют интерес исследования доменного строения и методом электронного зеркала: отражения электронов от заряженных поверхностей. [24]
Дифракция рентгеновских лучей позволяет идентифицировать кристаллические вещества с высокой степенью избирательности и точности. Измерение длин волн или энергий дает возможность определять различные элементы в возбуждаемом образце. Измерение излучаемой мощности при некоторых длинах волн может быть использовано для количественного определения состава пробы. [25]
 |
Расположение электродов в рентгеновской трубке для получения пучка под скользящим углом. [26] |
Дифракция рентгеновских лучей представляет большой интерес для изучения тех кристаллических веществ, в которых возможна дифракция. Не существует двух химических веществ, которые бы имели кристаллы с совершенно одинаковым расположением плоскостей во всех направлениях, так что полное изучение образца при различной ориентации на пути рентгеновских лучей должно давать однозначный результат для каждого вещества. [27]
Дифракция рентгеновских лучей и дифракция электронов различаются длиной волны дифрагированного излучения и его интенсивностью. Разная длина волны обусловливает разницу масштабов дифракционной картины, которая будет рассматриваться в разд. Различие интенсив-ностей объясняется различием физических механизмов рассеяния. [28]
Дифракция рентгеновских лучей от кристаллов находит два основных применения. [29]
Дифракция рентгеновских лучей имеет место как при прохождении их через кристалл, так и при отражении от него. [30]
Страницы: 1 2 3 4