Рентгеновская дифракция

Cтраница 1

Рентгеновская дифракция в малых углах и светорассеяние позволяют обнаруживать неоднородности размером от 1 до 102 - 103 нм ( от 10 до 103 - 10 А), определять их размеры, форму, ориентацию и концентрацию. [1]

Рентгеновская дифракция в малых углах л светорассеяние позволяют обнаруживать неоднородности размером от 1 до 102 - 103 нм ( от 10 до 103 - 104 А), определять их размеры, форму, ориентацию и концентрацию. [2]

Рентгеновскую дифракцию чаще всего используют для определения объемных кристаллических структур. Рентгеновские лучи рассеиваются зарядами, распределенными как внутри атомов, так и вокруг них, и поскольку это рассеяние является слабым, они могут проникать очень глубоко в образец, что позволяет зондировать его объемную структуру. Кроме того, малые сечения рассеяния рентгеновских лучей на атомах приводят к относительной нечувствительности к поверхностным атомам. [3]

Малоугловой рентгеновской дифракцией называют рассеяние в диапазоне углов от нескольких минут до 1 - 2 градусов. При изучении малоуглового рассеяния применяют специальные камеры, в которых расстояние от образца до фотопленки увеличено и составляет 20 - 50 см. На рентгенограмме может наблюдаться либо постепенное уменьшение интенсивности до нуля, либо видны максимумы, соответствующие большим периодам. На малоугловых рентгенограммах полимеров наблюдаются оба типа рассеяния: непрерывное распределение интенсивности и отдельные рефлексы. [4]

Типичный спектр рентгеновской дифракции АУВ и данные его анализа. [5]

Спектры рентгеновской дифракции всех АУВ содержат два рефлекса ( рис. 1), положения которых близки к положениям рефлексов графита ( 002) и ( 100) ( 101), соответственно. [6]

Методом рентгеновской дифракции с использованием источника синхротронного излучения проведено сравнительное исследование анизотропии сжатия кристаллических структур Р - и у-модификаций глицина, установлена корреляция с расположением в структуре межмолекулярных связей и с различиями в их энергии. Сопоставлены также величины объемной сжимаемости этих двух модификаций, проведены сравнительные калориметрические исследования всех трех полиморфных модификаций, получены значения теплоемкостей для них, определены энтальпии полиморфных переходов между модификациями. [7]

Методом рентгеновской дифракции показано наличие более упорядоченного, чем в объеме распределения молекул воды в пленке. Объемная электропроводность пленки уменьшается с изменением ее толщины от 80 до 20 А пропорционально толщине и составляет ( Л - Ю - ом-1 - см-1. Теплопроводность пленки воды возрастает по сравнению с объемной примерно на два порядка при утоныпешш пленки до 0 05 мк. [8]

Данные рентгеновской дифракции показали, что с повышением Гподл интенсивность дифракционного пика увеличивается, а его полуширина уменьшается. [9]

Методом рентгеновской дифракции в асфальтенах обнаружены пачечные образования / 4D /, содержащие 4 - 6 слоев, удал энных на 3 6 А, диаметром 9 - 15 А. [10]

Расчет рентгеновской дифракции на модельных структурах полиэтилентерефталата [247, 248] показал, что при сохранении параллельности цепей и закономерном их сдвиге вдоль оси текстуры, в этом полимере имеются нарушения сетки и поворота, если он находится в газокристаллическом состоянии. [11]

Изучение рентгеновской дифракции в этих системах ( см. раздел 1) показало, что имеется тенденция образовывать комплексы IB-Sn при составе около 25 % ( ат. Максимальные отрицательные энтальпии расплавов в системах Ag-Sn и Си-Sn приходятся на состав сплава, близкий к углу системы, богатому IB компонентом. В системе Аи-Sn максимум наблюдается при более высоких содержаниях олова в связи с образованием богатых оловом соединений. [12]

Основы теории рентгеновской дифракции на полимерах, опирающиеся на общую теорию дифракции на атомных структурах, изложены в монографии [1], поэтому ниже будут очень кратко рассмотрены лишь самые основные принципы рентгеновской дифракции. Схема построения теоретического рассмотрения естественна: сначала - для идеальных по регулярности систем, затем - для все более искаженных по структуре систем, что и ведет к возможности анализа дифракции для реальных полимерных объектов. [13]

Основное для рентгеновской дифракции представление, которое подтверждается как качественно, так и количественно, состоит в том, что атомы внутри монокристалла располагаются регулярно. Можно считать, что они расположены на равноотстоящих друг от друга плоскостях. [14]

Радиальное распределение электронной плотности для обычной воды ( 1, пленочной воды ( 2 и пленочной воды при меньшей толщине пленок ( 3. [15]

Страницы: 1 2 3 4