Рентгеновская дифракция
Cтраница 4
Таким образом, на основании данных рентгеновской дифракции, микродифракции, электронномикроскопического исследования морфологии хризотила установлено, что минерал имеет слоистую структуру с искривленными, закрученными слоями. В большинстве случаев закручивание бывает полное, и образуются трубки с внутренним диаметром около 110 и внешним до 260 А. Так как поперечное сечение пакета хризотила равно 7.2 А, то, следовательно, в трубку должно быть свернуто не более 10 слоев. Свободный изгиб слоя имеет радиус кривизны около 88 А. Для каждого последующего слоя, нарастающего на трубку, изгиб пакета становится все меньше и меньше. Кремнекислородный слой растягивается, и, наконец, наступает такой момент, когда изогнутый хризотиловый пакет, чтобы нарасти на уже готовую трубку, должен настолько исказиться, что это искажение пакета делает образование новой трубки энергетически более выгодным. [46]
 |
Малоугловые рентгенограммы от ориентированных полимеров. [47] |
Самые ранние исследования ориентированных полимеров методом малоугловой рентгеновской дифракции показали, что в области очень малых углов ( - 1 относительно первичного пучка) появляются дифракционные максимумы ( рис. II. [48]
Аналогичные результаты были получены при изучении рентгеновской дифракции алмазных порошков по методу Дебая. Так, наращенный на 50 % порошок синтетического алмаза марки ACM I / O исследовался на рентгеновской установке УРС-60. Примеси других веществ не были обнаружены, хотя метод позволяет уверенно определять компоненты смеси, если их количество не менее 2 - 3 вес. [49]
Все эти результаты механического нагружения проявляются в рентгеновской дифракции. Так, в большеугловой дифракции сдвиги, изменение контура ( радиального и азимутального) и интенсивности кристаллических рефлексов позволяют судить о натяжении макромолекул, о жесткости, устойчивости или податливости полимерных кристаллитов, об искажениях решетки кристаллитов при действии нагрузки. Для аморфных полимеров наблюдаются некоторые изменения в гало под нагрузкой, но эта информация, как уже подчеркивалось, сравнительно бедна. [50]
Дифракционные методы и прежде всего - методы рентгеновской дифракции такую возможность создают. Уже давно, как отмечалось выше, используют анализ рентгеновских рефлексов - дифракционных пиков при прохождении рентгеновских лучей сквозь решетку из атомов ( кристаллическую решетку) - для определения координат атомов. В последние годы стремительно развивается и совершенствуется техника этого анализа, приводящая в конце концов к визуализации атомно-молекулярной структуры. [51]
При этом число принятых во внимание рефлексов рентгеновской дифракции должно примерно втрое превосходить число параметров, определяющих расположение атомов в элементарной ячейке. [52]
Приведенная цитата является прекрасным кратким введением к рентгеновской дифракции - Эта область исследований оказалась чрезвычайно полезной при изучении кристаллической структуры вещества, а также разработке средств получения монохроматических рентгеновских лучей и измерения их длин волн. [53]
Длина складки I определяется либо по данным малоугловой рентгеновской дифракции, либо электронномикроскопически. Измерения проводятся в таком режиме, чтобы избежать рекристаллизации. [54]
Для получения информации о надмолекулярной структуре из малоугловой рентгеновской дифракции, где число рефлексов совсем мало ( один-два, и редко - до трех-четырех), метод модельных расчетов стал по существу единственным. [55]
Длина складки I определяется либо по данным малоугловой рентгеновской дифракции, либо электронномикроскопически. Измерения проводятся в таком режиме, чтобы избежать рекристаллизации. [56]
Страницы: 1 2 3 4