Высота - микронеровность
Cтраница 4
После черновой обработки высота микронеровностей составляет Rmax 80 Ч - 400 мкм и выше; эти микронеровности удаляют на чистовых режимах, снизив сначала силу тока на частоте 8 или 22 кГц до 20 - 30 А, а затем переходят к более высоким частотам и низким силам тока. На промежуточных частотах работают при силах тока 15 - 20, 7 - 10 и 3 - 5 А. [46]
 |
Номограмма для выбора режимов ЭЭО ( зона термического влияния приведена для стали 45. [47] |
После черновой ЭЭО высота микронеровностей достигает 0 3 - 0 4 мм и более. Снижая значения среднего тока на низких частотах до 20 - 30 А, удается значительно уменьшить микронеровности, а затем ЭЭО осуществлять на повышенных частотах 8000 Гц и выше. [48]
От чего зависит высота микронеровностей и их характер при точении. [49]
Для получения зависимостей высоты микронеровностей от различных факторов необходимо определить значение оценок коэффициентов а и Р, а также значение оценки среднеквадратического отклонения а. [50]
Приведенные выше расчеты высоты микронеровностей, остающихся при обтачивании, являются частными случаями соотношения величины радиуса закругления резца г, величины подачи S и углов резца в плане ср и р, при которых неровности образуются пересечением двух дуг радиуса закругления резца ( фиг. [51]
Коэффициент С зависит от высоты микронеровностей ( в микронах) и от материала стыкуемых деталей. [52]
При этом значительно уменьшается высота микронеровностей, а микровыступы срезаются и образуют прямолинейную поверхность. [53]
 |
Зависимость микроструктуры мед-иых пленок от скорости осаждения. [54] |
С увеличением скорости осаждения высота микронеровностей на поверхности пленки уменьшается, несмотря на то, что размер кристаллитов в горизонтальной плоскости растет. [55]
Так, при уменьшении высоты микронеровностей поверхности прочность в целом возрастает, однако неблагоприятное сочетание величин RZ / R и р, определяющих форму микронеровностей, может привести и к снижению прочности. [56]
 |
Профилограф-профилометр. а - общий вид. б - принципиальная схема. [57] |
Изменения амплитуды напряжения характеризуют высоту микронеровностей, а изменение чистоты ( при работе прибора в режиме профилометра) - их шаг. Числовые значения параметров определяют с помощью цифрового отсчетного устройства. При работе прибора в режиме профилографа изменения напряжения подаются на записывающее устройство. [58]
Изменения амплитуды напряжения характеризуют высоту микронеровностей, а изменение чистоты ( при работе прибора в режиме профилометра) - их шаг. Числовые значения параметров определяют с помощью цифрового отсчетного устройства. При работе прибора в режиме профилографа изменения напряжения подаются на записывающее устройство. [59]
При количественном методе оценки высоту микронеровностей определяют непосредственно в Нск и Нср с помощью приборов. [60]
Страницы: 1 2 3 4 5