Прямая ионизация - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
Если третье лезвие бреет еще чище, то зачем нужны первые два? Законы Мерфи (еще...)

Прямая ионизация

Cтраница 4


46 Средние значения параметров некоторых частиц. [46]

Нейтроны могут также вызывать ядерные реакции. С и 16O ( n, p) 16N имеют высокие сечения на быстрых нейтронах и, по-видимому, также вносят вклад в суммарный эффект повреждающего воздействия быстрых нейтронов на живую ткань. Подобные реакции, конечно, происходят и с участием заряженных частиц, но их доля в суммарном количестве переданной энергии ничтожна по сравнению с процессом прямой ионизации.  [47]

Различают фотонное ( электромагнитное) и корпускулярное И.и. К фотонному И.и. относят вакуумное УФ и характеристическое рентгеновское излучения, а также излучения, возникающие при радиоактивном распаде и др. ядерных р-циях ( гл. Если выбиваемые при этом электроны обладают достаточной кинетич. Фотонное излучение может ионизировать среду как непосредственно ( прямая ионизация), так и через генерированные в среде электроны ( косвенная ионизация); вклад каждого из этих путей ионизации определяется энергией квантов и атомным составом среды. Потоки нейтронов ионизируют среду лишь косвенно, преим.  [48]

Для оценки относительной роли процессов ионизации и возбуждения молекул в радиационно-химических реакциях необходимо знать вероятности этих процессов. Исследования спектров потерь энергии электронов ( при энергии 70 эВ) в сочетании с измерениями энергии выбитых электронов [1, 2] показали, что вероятность ионизации моиекул углеводородов ( 0 6 - 0 7) выше, чем вероятность их возбуждения. Таким образом, при действии электронов с энергиями, характерными для радиационной химии, более половины поглощенной энергии расходуется на образование ионов. В некоторых веществах образование ионов происходит в основном в результате процессов прямой ионизации ( например, этанол [7]), в других же ( галогенбензолы [8], аллек [9]) заметный вклад в образование ионов во всех электронно-возбужденных состояниях вносит автоионизация.  [49]

Об этом механизме электризации частиц почти ничего не известно. Поскольку эффект ионизации прежде всего зависит от массы, количество ионов, образующихся из молекулярных частиц воздуха, будет по крайней мере на несколько порядков выше, чем при ионизации аэрозольных частиц. Поэтому образование заряда на этих частицах должно происходить в основном зследствие захвата ими ионов из воздуха, а не путем прямой ионизации. Таким образом, роль прямой ионизации не существенна.  [50]

Вследствие поглощения фотонов электронами непрозрачные материалы под действием света нагреваются с поверхности. Термический эффект преобладает вплоть до весьма высоких интенсивностей световых пучков, создаваемых в современных оптических устройствах. И только когда напряженность электрического поля в световой волне становится сравнимой с напряженностью внутреннего поля ( порядка 107 - 109 вольт / см), созданного электронами и ядрами атомов тела, начинают играть роль процессы прямой ионизации атомов материала в световых пучках. На языке механики разрушения это соответствует достижению в теле предельно больших напряжений, сравнимых с теоретической прочностью. Поэтому энергия химической связи близка к потенциалу ионизации.  [51]

Об этом механизме электризации частиц почти ничего не известно. Поскольку эффект ионизации прежде всего зависит от массы, количество ионов, образующихся из молекулярных частиц воздуха, будет по крайней мере на несколько порядков выше, чем при ионизации аэрозольных частиц. Поэтому образование заряда на этих частицах должно происходить в основном зследствие захвата ими ионов из воздуха, а не путем прямой ионизации. Таким образом, роль прямой ионизации не существенна.  [52]

Таким образом, колебательное и вращательное возбуждение молекул может сильно влиять на сечения процессов, инициируемых электронным ударом. Особенно сильно такое влияние проявляется, как следует из проведенного выше анализа, на парциальных сечениях процессов возбуждения отдельных электронно-колебательных уровней, парциальных сечениях ионизации, сечениях ионизации путем АИ. При этом наблюдаются как сдвиги порогов соответствующих процессов, так и существенные изменения абсолютных сечений. Наиболее слабо влияние этого возбуждения на процессы прямой ионизации из основного состояния ввиду суммирования сечений по всем колебательным уровням конечных состояний ионов. В случаях же процессов диссоциации, диссоциативной ионизации, а также автоионизации и диссоциативного прилипания электронов вследствие сильной зависимости эффективности протекания соответствующих процессов распада от номера колебательного уровня зависимость сечений от вращательного и колебательного возбуждения молекул-мишеней становится очень существенной и должна учитываться при расчете скоростей соответствующих процессов в реальных плазмохимических системах.  [53]

Потребовались измерения при очень малых межэлектродных расстояниях, чтобы установить, что точка g характеризует истинную эмиссионную способность эмиттера при умеренных ускоряющих полях. Нужно отметить, что в точке h начинается второй резкий переход. Если между g к h нет резко выраженного плато, то, конечно, указанным способом трудно определить эмиссионную способность эмиттера при нулевом поле. Крутой переход от точки / к точке g объясняется тем, что в точке / резко увеличивается скорость образования ионов вблизи поверхности коллектора, причем эта скорость становится достаточной, чтобы уменьшить поле у поверхности почти до нуля. Это состояние диода неустойчиво, и вскоре ионов в пространстве образуется больше, чем нужно для нейтрализации пространственного заряда, создаваемого полным током эмиссии эмиттера. Тем не менее, ионы образуются пока еще в значительной мере в результате ступенчатой ионизации, поскольку электронов, способных к прямой ионизации, обычно еще недостаточно для того, чтобы получить необходимое количество ионов. Тщательные исследования обычно показывают, что в точке h уже многие электроны, падающие на поверхность коллектора, обладают энергией, достаточной для ионизации в условиях однократного столкновения.  [54]

Найденное в этой работе значение Uc оказалось близким к ионизационному потенциалу ртути t / i10 4 в. На основании этих и ряда других данных возникло представление о том, что катодное падение должно быть по меньшей мере равно ионизационному потенциалу паров металла катода, выполняющих роль газовой среды, в которой происходит разряд. Отсюда был сделан вывод, что основным процессом ионизации в области отрицательного свечения является прямая ионизация газа электронами, ускоренными в области катодного падения. Основное усовершенствование заключалось в том, что в этих опытах катодное пятно-удерживалось на малой каплеобразной поверхности ртути, благодаря чему была внесена определенность в измерения расстояния зонда от катодного пятна. Концентрация электронов и их энергия также были найдены уменьшающимися по направлению от катодного пятна к аноду, но это уменьшение было значительно более резким. Измеренные Ламаром и Комптоном значения катодного падения в ртутной дуге, даже с учетом экстраполяции потенциала пространства к самой поверхности: катода, оказались меньше ионизационного потенциала ртути. Столь низкие значения Uc исключают возможность прямой ионизации ртутных паров электронами, достаточной для поддержания дуги.  [55]



Страницы:      1    2    3    4