Глубина - фокус
Cтраница 1
Глубина фокуса Л2Ф определяется условием Ww 0 25, которое обеспечивает качество пятна, практически соответствующее дифракционно-ограниченному пределу. [1]
Если глубина фокуса - 1 мкм, то все точки объектов просвечивающего микроскопа, обычно имеющих толщину - 0 1 мкм, фокусируются. Более того, получается четкое изображение таких рельефных объектов, как реплики с поверхности излома. Большой глубиной фокуса объясняется известная конструктивная особенность фотокамеры электронного микроскопа: флюоресцирующий экран, на котором проводится фокусировка изображения, расположен примерно на 1 см выше плоскости фотопластинки, регистрирующей изображение. [2]
При увеличениях около 100 000 глубина фокуса электронного микроскопа остается на порядок более высокой, чем при предельных увеличениях светового микроскопа. Это обстоятельство имеет важное значение в практике микроскопического исследования. [3]
Для получения более глубокого рельефа я полного использования глубины фокуса РЭМ время травления микрошлифов следует увеличить. [4]
 |
Принцип гусеницы для привода каретки. [5] |
Далее возникла необходимость уменьшить пятно фокусировки, что привело к уменьшению глубины фокуса и, следовательно, к необходимости разработки системы управления фокусировкой. [6]
 |
Области генерации и пространственное разрешение в отраженных, вторичных и Оже-электронах, а также в рентгеновском излучении, образующихся в РЭМ. [7] |
В табл. 3.2 и 3.3 приведена сравнительная характеристика этих микроскопов по разрешающей способности, глубине фокуса и другим показателям. Не следует рассматривать СМ, РЭМ и ПЭМ как конкурирующие приборы. Скорее они дополняют друг друга и наиболее перспективно комплексное их использование в металловедческих исследованиях. [8]
Это достигнуто исключением путаницы, свойственной отдельным изображениям, из-за наложения деталей, которые лежат в пределах глубины фокуса объектива электронного микроскопа. До этих исследований, глубина фокуса объектива рассматривалась как фундаментальное ограничение, присущее электронной микроскопии. [9]
Таким образом, по схеме Адамса можно оценить заливание в любой точке побережья Гавайских островов при условии, что магнитуда землетрясения, глубина фокуса, положение эпицентра и глубина воды в эпицентре известны. [10]
Так, если глубина резкости оптической системы в обычных установках для совмещения и контактного экспонирования ограничена ввиду упомянутого выше противоречия с требованием высокой разрешающей способности, глубина фокуса электронного луча в несколько раз выше. [11]
 |
Сопряженные изображения, возникающие в процессе восстановления. [12] |
Такое объяснение возникающей в процессе восстановления остаточной волны как волны, испущенной предметом-двойни-ком, ясно показывает, что можно найти условия, позволяющие достаточно эффективно отделить восстановленный предмет от его двойника путем применения для наблюдений оптической системы с ограниченной глубиной фокуса. Разделение становится возможным, если расстояние 2г0 между предметами-двойниками превышает глубину фокуса Dt, которая может быть определена как отношение предела разрешения d к полному углу расходимости 2ут пучка, используемого для формирования изображения. [13]
Это достигнуто исключением путаницы, свойственной отдельным изображениям, из-за наложения деталей, которые лежат в пределах глубины фокуса объектива электронного микроскопа. До этих исследований, глубина фокуса объектива рассматривалась как фундаментальное ограничение, присущее электронной микроскопии. [14]
 |
Переходная характеристика оптической воспроизводящей системы для. [15] |
Страницы: 1 2 3