Глубина - фокус
Cтраница 2
Наконец, на рис. 2.43 изображены случаи, когда глазки полностью пропадают как при наличии, так и при отсутствии выравнивающего фильтра. Расфокусировка сканирующего пятна ( без аберраций) равна удвоенной глубине фокуса ( U. В этом случае качественное воспроизведение цифрового сигнала может быть достигнуто только с помощью корректирующего ошибки цифрового кодирования. [16]
Гутенберг и Рихтер ( цитированные Булленом [99]) констатировали, что 12 % энергии, ежегодно высвобождаемой при землетрясениях, приходится на промежуточные, 3 % - на глубокие, а остальные 85 % - на неглубокие землетрясения. В группе промежуточных частота землетрясений быстро уменьшается с увеличением глубины фокуса. В группе глубокофокусных повторяемость распределена довольно равномерно, пока глубина не достигает наибольших значений - около 700 км. Полоса повышенной сейсмичности, окружающая Тихий океан, почти целиком состоит из эпицентров глубокофокусных землетрясений. [17]
 |
Сопряженные изображения, возникающие в процессе восстановления. [18] |
Такое объяснение возникающей в процессе восстановления остаточной волны как волны, испущенной предметом-двойни-ком, ясно показывает, что можно найти условия, позволяющие достаточно эффективно отделить восстановленный предмет от его двойника путем применения для наблюдений оптической системы с ограниченной глубиной фокуса. Разделение становится возможным, если расстояние 2г0 между предметами-двойниками превышает глубину фокуса Dt, которая может быть определена как отношение предела разрешения d к полному углу расходимости 2ут пучка, используемого для формирования изображения. [19]
Круг рассеяния представляет собой область неясного ( изображения точки. Диапазон расстояний от изображения, соответствующий глубине поля rfj rfa, называется глубиной фокуса. [20]
Боковая разрешающая способность разверток типа В или С недостаточно высока ввиду раскрытия пучка нормального искателя. Она может быть улучшена с применением фокусирующих искателей, но впрочем только для области глубины фокуса. [21]
Помимо увеличения разрешающей способности применение электронной оптики дает еще ряд серьезных преимуществ. Так, если глубина резкости оптической системы в обычных установках для совмещения и контактного экспонирования ограничена ввиду упомянутого выше противоречия с требованиями высокой разрешающей способности, то глубина фокуса электронного луча в несколько раз выше. [22]
Дополнительные данные относительно топографии поверхности могут быть получены при помощи специальных методик. Используемый в оптической микроскопии метод, который при малой глубине фокуса дает возможность исследовать рельеф поверхности образца различной фокусировкой прибора, для электронного микроскопа не пригоден, так как для него глубина фокуса велика по сравнению с величиной разрешающей способности и часто больше, чем исследуемые изменения рельефа поверхности. Топография поверхности может быть изучена при помощи так называемого метода оттенения. Молекулярный пучок металла распространяется прямолинейно в высоком вакууме. [23]
Много усилий было приложено к тому, чтобы сделать контуры освещающего пучка возможно более резкими. Это необходимо для того, чтобы исключить обнаруженную в коллоидных золях68 и аэрозолях30 ошибку, вызванную включением в счет частиц, находящихся вне светового пучка ( но вблизи его) и освещаемых лучами, рассеиваемыми частицами, находящимися внутри пучка. Это - трудно устранимый источник ошибок, поскольку глубина фокуса микроскопа не должна быть меньше толщины светового пучка и при подсчете частиц полидисперсного аэрозоля невозможно отличить слабо освещенные крупные частицы, находящиеся вне пучка, от мелких частиц внутри его. Допускаемые при этом ошибки могут иногда достигать 100 %, что послужило толчком к разработке новой конструкции ультрамикроскопа. [24]
 |
Ультрамикроскопическая кювета 69. [25] |
Много усилий было приложено к тому, чтобы сделать контуры освещающего пучка возможно более резкими. Это необходимо для того, чтобы исключить обнаруженную в коллоидных золях 68 и аэрозолях30 ошибку, вызванную включением в счет частиц, находящихся вне светового пучка ( но вблизи его) и освещаемых лучами, рассеиваемыми частицами, находящимися внутри пучка. Это - трудно устранимый источник ошибок, поскольку глубина фокуса микроскопа ие должна быть меньше толщины светового пучка и при подсчете частиц полндисперсного аэрозоля невозможно отличить слабо освещенные крупные частицы, находящиеся вне пучка, от мелких частиц внутри его. Допускаемые при этом ошибки могут иногда достигать 100 %, что послужило толчком к разработке новой конструкции ультрамикроскопа. [26]
Большинство описанных приборов является масс-спектрографами [1335], однако лишь в двух случаях одновременная двойная фокусировка выполняется для всех масс, и в них фотографическая пластинка помещается в плоскости двойного фокуса. В других случаях линии фокуса скорости и направления при изменении масс пересекаются под углом в точке двойного фокуса для данной массы. Оптимальное положение фотопластинки находят, располагая пластинку вдоль линии фокусов по направлению, так как глубина фокуса по скорости всегда больше. В масс-спектрометре с двойной фокусировкой положения фокуса направления и скоростей совпадают. Если из-за ошибок при конструировании или эффектов второго порядка пересечение не произойдет в рассчитанной точке, оно осуществится вблизи нее, тогда как в случае приборов, обеспечивающих двойную фокусировку всех масс, линии фокусов могут смещаться, но остаются параллельными. [27]
Лефрой отметил, однако, что метод допускает ошибку, особенно при высокой порозности, поскольку глубина фокуса камеры примерно около одного диаметра частицы. Поэтому частицы, даже слегка удаленные от плоской передней стенки аппарата, не будут давать четкого изображения на фотографии, а, следовательно, и не могут быть учтены. Тем не менее результаты этого метода хорошоч согласуются с данными, полученными более испытанными методами, упомянутыми выше. Это означает, что ошибка, которой опасался Лефрой, не является: слишком значительной. [28]
 |
Методы частичного перекрытия зрачка с помощью ножа Н, расположенного далеко от фокуса ( а, и при замене ножа бипризмой ( б. [29] |
На рис. 2.53, а показано распределение интенсивности в плоскости детектора. Луч точно фокусируется на детекторе, и распределение интенсивности симметрично. На рис. 2.53, б сканирующее пятно смещено на 2 мкм от положения оптимального фокуса на диске ( одна глубина фокуса) и большая часть света падает уже на одну площадку детектора. На рис. 2.54 показан сигнал ошибки фокусировки, полученный по этому методу. [30]
Страницы: 1 2 3