Диффракция - электрон - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Если у вас есть трудная задача, отдайте ее ленивому. Он найдет более легкий способ выполнить ее. Законы Мерфи (еще...)

Диффракция - электрон

Cтраница 2


В то же время по данным диффракции электронов [199] ациклический имид - диацет-амид имеет ис-т / зсшс-конфигурацию с двугранным углом около 36 между двумя карбонильными группами, как показано в ( 87) для водного диацетамида. Это согласуется с тем, что в имидах неподеленная пара электронов азота распределяется между двумя карбонильными группами.  [16]

Интересно заметить, что данные по диффракции электронов [16, 17] указывают на уменьшенную величину углерод-углеродной связи в ядре пиридина.  [17]

18 Длина волн, сопряженных с материальными частицами.| Изменение вероятности нахождения точки, находящейся в гармоническом колебании ( маятник. [18]

Блестящим подтверждением теории де Бройля оказалась диффракция электронов и, наконец, электронный микроскоп, в котором поток электронов ведет себя подобно световому лучу.  [19]

Интересно заметить, что данные по диффракции электронов [16, 17] указывают на уменьшенную величину углерод-углеродной связи в ядре пиридина.  [20]

Закись углерода, С3О2 - Исследование диффракции электронов ( Броквей и Паулинг [181], Берш [157]) приводит к выводу, что молекула C3OS линейна и симметрична. Рассмотрение валентностей решительно подтверждает линейную модель. Поэто - j) му, несмотря на противоречие с результатами измерения дипольного момента, ее обычно используют в качестве основы для интерпретации спектра.  [21]

На практике наиболее важным различием между диффракцией электронов и рентгеновых лучей является гораздо более легкое поглощение электронов. Пучок-электронов может проникать в твердые вещества максимально на расстояние нескольких сотен ангстремов. В силу этого метод применяется только к исследованию очень тонких пленок, поверхностных слоев толстых образцов и газов.  [22]

На практике наиболее важным различием между диффракцией электронов и рентгеновых лучей является гораздо более легкое поглощение электронов. Пучок электронов может проникать в твердые вещества максимально на расстояние нескольких сотен ангстремов. В силу этого метод применяется только к исследованию очень тонких пленок, поверхностных слоев толстых образцов и газов.  [23]

В последней работе Сидху [282] методом рентгенографии и диффракции электронов изучены параллельно системы гафний - водород и титан - водород. Определено расположение атомов дейтерия для кубической и тетрагональной фазы.  [24]

Как уже ранее упоминалось в связи с рассмотрением явления диффракции электронов, диаметр электрона составляет около 10 8 см. Таким образом.  [25]

26 Схема устройства электронного микроскопа. пии могут быть значительно расширены а-схема оптического ми-несколькими путями. кроскопа. б - схема элек. [26]

Применяя специальные приспособления, можно получать в электронном микроскопе картину диффракции электронов, в изучаемом объекте. Возникающие при этом электронограммы имеют тот же вид, что и рентгеновские снимки порошков.  [27]

Ямагути [86] позднее исследовал граничные поверхности этих образцов как методом диффракции электронов, так и при помощи электронного микроскопа, применяя способ оксидных реплик.  [28]

Двадцатипятилетие, прошедшее со времени открытия метода изучения структуры вещества при помощи диффракции электронов ( 1927 - 1952), оказалось для распространения метода менее эффективным, чем соответствующее двадцатипятилетие ( 1912 - 1937) для развития метода диффракции рентгеновских лучей. Причина этого заключается в том, что методика электронографии значительно более трудная вследствие необходимости помещения исследуемых образцов в вакуум порядка 10 - 4 - 10 - 5 мм рт. ст. Кроме того, ценность метода электронографии выявилась в тех областях знания, где не было достаточно четких научных представлений, а именно в области исследования поверхностных слоев и тонких пленок, термодинамика и кинетика которых остаются и до сих пор еще мало разработанными.  [29]

При испарении галоидных солей щелочных металлов образуются простые молекулы АХ, изученные методом диффракции электронов. Для галоидопроизводных щелочных металлов две последние конфигурации, невидимому, менее устойчивы, чем АХ.  [30]



Страницы:      1    2    3    4