График - вероятность - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Чудеса современной технологии включают в себя изобретение пивной банки, которая, будучи выброшенной, пролежит в земле вечно, и дорогого автомобиля, который при надлежащей эксплуатации заржавеет через два-три года. Законы Мерфи (еще...)

График - вероятность

Cтраница 2


В системах с ограниченной мощностью удобнее всего пользоваться графиком вероятности появления ошибки, поскольку при переходе от одной кривой к другой требования к полосе пропускания лишь подразумеваются, а явно выделяется вероятность появления битовой ошибки. График эффективности использования полосы частот, как правило, применяется в системах с ограниченной полосой пропускания; здесь при переходе от одной кривой к другой на задний план отодвигается вероятность появления битовой ошибки, тогда как требования к полосе пропускания показываются явно.  [16]

17 Распределение Е № размахов дР. [17]

Для иллюстрации полученных выводов на рис. 11 - 5 приведен график вероятности размахов в зависимости от их величины для группового графика от 10 аппаратов дуговой электросварки; здесь же штрихами показана зависимость, найденная из опыта.  [18]

Можно показать, что если исходная вероятность ответа мала, то график вероятности правильного ответа может иметь перегиб, как чаще всего и бывает на практике.  [19]

20 Зависимости вероятности срыва функционирования от резерва времени. [20]

При выяснении размеров этого резерва удобно пользоваться семейством кривых рис. 2.4. Если все начальные точки графиков вероятности Q ( p, Y) как функции Y - М и изобразить в зависимости от р М3, то они образуют функцию 1-ехр ( - р), из каждой точки которой можно провести кривую, выражающую зависимость вероятности срыва функционирования от резерва времени.  [21]

Средний квадрат времени отказа можно найти графически: на основании формулы (2.14), если известен график плотности вероятности, или на основании формулы (2.15), если известен график вероятности безотказной работы.  [22]

Если исходные данные образованы распределением D, тогда, с точностью до коэффициентов положения и масштаба, Хг будут приближенно равны теоретическим значениям Mt ( D) для всех i, так что график Xj относительно Mf ( D) ( построенный как график вероятностей) будет приблизительно линейным.  [23]

При графическом способе обработки результатов строится график вероятности, который выражает усредненную зависимость относительного количества разрушенных образцов от температуры. График вероятности строится на особой координатной сетке.  [24]

25 Гистограмма концентрации [ IMAGE ] График вероятности гисто-радикалов, полученная для термооб - граммы концентрации радикалов. [25]

Этот факт отражен на рис. 7.17, где распределение длин цепей для термообработанного образца сравнивается с таким же распределением для нетермообработанного контрольного образца. Используемый график вероятности был рассчитан в предположении, что гистограмма на рис. 7.16 соответствует нормальному распределению длин цепей, искаженному в правой части.  [26]

Природа распределения прочности изучалась рядом исследователей, и в [60] обнаружено три типа дефектов в стеклянных волокнах диаметром в 10 мкм. Там также приведено несколько графиков вероятностей разрушения и обсуждено их соответствие различным функциям распределения. III, в котором представлена модель временного разрушения, принято, что распределение прочности стеклянных волокон следует функции распределения Вейбул-ла [68], хотя некоторые исследователи и предпочитают распределение Гаусса.  [27]

28 Вероятность выявления подповерхностных волосовин в зависимости от напряженности поля в детали.| Выявляемость шлифовочных трещин в зависимости от напряженности намагничивающего поля.| График выявляемости подповерхностных дефектов в зависимости от их ширины. [28]

Выявляемость различных дефектов, как например, волосовин, шлифовочных трещин и др., также зависит от напряженности магнитного поля, создаваемого током в деталях, которое в свою очередь зависит от магнитных свойств деталей. На рис. 1 - 20 и 1 - 21 приведено семейство графиков вероятностей выявления различных по роду дефектов в зависимости от ( напряженности магнитного поля.  [29]

30 Релеевская граничная вероятность битовой ошибки ( где ( Eb / N0 Е ( ос2 1. [30]



Страницы:      1    2    3