Два - дефект
Cтраница 1
Два дефекта располагаются не на одной глубине, а вдоль фронта волны, т.е. перпендикулярно к акустической оси преобразователя. Однако когда линия, соединяющая дефекты, расположена под углом 5 к оси преобразователя ( см. рис. 2.66, б), они могут разрешиться под действием лучевой разрешающей способности. [1]
Два дефекта считают различными и их условную протяженность определяют раздельно, если при перемещении преобразователя вдоль образующей трубы их условные протяженности не перекрываются. [2]
 |
Зависимость параметров долговечности от исходных данных. [3] |
Рассмотрим два дефекта: царапину ( аа 3 1) и трещину. Глубина дефектов одинакова: а0 2 0 5 мм. Нагрузка циклическая с максимальным давлением, равным рабочему: р Рраб 5 0 1 МПа. [4]
Если два дефекта упаковки расположены так, что каждый из них) отстоит от поверхности фольги на целое число экстинкционных расстояний, например t kt e и t3 k t e, то из выражения (2.29) явствует, что интенсивность рассеянной волны будет такой же, как и в случае совершенного кристалла толщиной tz или if, поскольку добавляется лишь целое число экстинкционных расстояний. [5]
Давайте исправим эти два дефекта. Во-первых, улучшение внешнего вида запросов ристемы будет основано на введении стандартного формата для каждой запрашиваемой цели. [6]
На ней имеется два дефекта структуры, и с помощью туннельного микроскопа, который фактически измеряет распределение плотности электронов по поверхности, видна образующаяся интерференционная картина - стоячие электронные волны, точно такие же, как на поверхности воды. [7]
Можно считать, что два дефекта выявляются раздельно, если минимальный и максимальный эхо-сигналы отличаются по величине в 2 раза. [8]
Можно считать, что два дефекта выявляются раздельно, если минимальный и максимальный эхо-сигналы отличаются по величине в 2 - 3 раза. [9]
 |
Вероятность обнаружения дефектов различной протяженности.| Зависимость вероятности обнаружения дефекта. [10] |
В данном случае радиографией не выявлены два дефекта. [11]
 |
Схема радиографической просветки монтажного шва N 1.| Зависимость вероятности обнаружения дефекта от линейного размера дефектов. [12] |
В данном случае радиографией не до-бракованы два дефекта. [13]
Кроме того, в таких графиках существует еще два дефекта. Многие паттерны основаны на совмещении трех или более событий. [14]
Так, при образовании раствора замещения ион Li образует два дефекта: собственно ион Li на месте иона Ва и анионную вакансию. Ион Ni2 дает при образовании раствора замещения только один дефект-вакансий в этом случае не образуется. Анологичная ситуация возникает и при образовании раствора внедрения. [15]
Страницы: 1 2 3