Cтраница 4
Ближнюю область ( 0 75 - 2 7 мк) иногда называют обертонной, исходя из природы наблюдаемых в этой области спектров. Здесь возможно использование материалов, источников и приемников, применяемых в видимой области спектра. Диспергирующим элементом может служить стеклянная призма ( обычно флинт Ф1), источником - вольфрамовая лампа накаливания, приемником - фотосопротивление. Средней инфракрасной областью условно можно назвать область 2 7 - 50 мк, в которой еще возможно использование призм. Дальняя инфракрасная область протирается от 0 05 до 2 5 мм, перекрываясь с областью ультракоротких радиоволн. [46]
Технология измерения отклонений от кругл ости. При измерении отклонений от круглости необходимо выбрать нормальную плоскость измерения и, если она не задана, то измерения производят в нескольких плоскостях. При этом первое и последнее сечение должны располагаться от края на расстоянии 1 / 2N, а расстояние между сечениями принимается равным 1 / N. При использовании круглограмм для определения отклонений от круглости следует учитывать различие в увеличении по радиальному и тангенциальному направлениям, из-за чего форма профило-граммы не совпадает с формой реального профиля. Схемы измерения с базированием в центрах, с базированием в двух соос-ных призмах ( ось базирования перпендикулярна линии измерения) и с использованием седлообразной призмы могут использоваться при контроле в процессе обработки. [47]
Если в силу каких-либо причин волновая поверхность обладает различной кривизной в разных сечениях, то тогда и возникнет астигматизм. Известно, что два сечения, обладающие минимальной и максимальной кривизной, взаимно перпендикулярны. Это и объясняет появление фокальных линий аа и bb на рис. 6.59, заменивших стигматический фокус. Этого добиться трудно, так как при любом преломлении ( даже на идеально плоской границе) гомоцентричность пучка нарушается. Возникнет астигматизм наклонных пучков. Следовательно, неизбежен астигматизм и при использовании призмы, на преломляющую поверхность которой свет всегда падает наклонно. [48]
Описаны конструкции объективов ( линзовых, зеркально-линзовых, зеркальных), применяемых в спектрографах, с указанием возможностей исправления отдельных аберраций. IV содержит обоснование выбора параметров и описание оптических систем спектральных приборов с фотоэлектрическими и тепловыми приемниками излучения. Рассматриваются схемы простых и двойных монохроматоров и приборов с многократной дисперсией. V рассматриваются особые виды спектрографов ( приборы со скрещенной дисперсией и бесщелевые), а также полихроматоры и спектроскопы. VI посвящена спектральным приборам с вогнутыми дифракционными решетками. Рассмотрены аберрации вогнутой решетки и способы их компенсации в различных установках, обоснована целесообразность применения в отдельных случаях асферических вогнутых решеток и решеток с переменным шагом. VII показана возможность использования призм и плоских дифракционных решеток в непараллельных пучках лучей. Приложения содержат справочные данные, необходимые при выборе схем и расчете оптики спектральных приборов. [49]