Более мелкий дефект

Cтраница 1

Более мелкие дефекты на внутренней поверхности ИМС могут быть обнаружены с помощью специальных оптических средств, например, микроскопов с фазовым контрастом, современные образцы которых позволяют различать при определенных условиях детали до 1 - 0 5 мкм, и микроскопы для наблюдения в темном поле при освещении под такими углами, когда свет не может проникнуть в объектив микроскопа. [1]

Блок-сх. ма импульсного ультразвукового э о-дефектоскопа. [2]

Чем выше частота, тем более мелкие дефекты и неоднородности могут быть обнаружены; однако с повышением частоты затрудняются ввод УЗК в металл и расшифровка показаний, поскольку мелкие неоднородности металла, не являющиеся достаточно серьезными дефектами, при высоких частотах дают свои эхо-сигналы. [3]

Контроль изделий с помощью импульсного ультразвукового дефектоскопа 86 - ИМ-З.| Дефектоскоп с приставкой для автоматического контроля. [4]

Чем выше частота, тем более мелкие дефекты и неоднородности могут быть обнаружены; однако с повышением частоты затрудняется ввод УЗК в металл и расшифровка показаний, поскольку мелкие неоднородности металла, не являющиеся достаточно серьезными дефектами, при высоких частотах дают свои сигналы. [5]

Схема настройки. [6]

Понижение порога чувствительности означает повышение чувствительности по выявлению более мелких дефектов. [7]

Схема прозвучивания листа ( плиты нормальными волнами. Обозначения на 106. [8]

Было замечено, что с уменьшением толщины листа выявляются более мелкие дефекты. В листах из алюминиевых сплавов обнаруживают внутренние дефекты ( подплакировочные. [9]

Номограмма областей применения рентгеновских пленок для просвечивания стали. [10]

Рентгеновское излучение или изотопы с малой энергией излучения позволяют обнаружить более мелкие дефекты, поэтому их целесообразно применять для особо ответственных изделий. [11]

При выборе угла обзора необходимо помнить, что при меньших углах возможно обнаружение более мелких дефектов, но при этом контролируется меньшая площадь. [12]

Поперечное сечение ребристой. [13]

Была поставлена задача обнаружения только поверхностных дефектов в стенках емкостей из алюминиево-магниевого сплава, причем требовалось обнаруживать возможно более мелкие дефекты. РС-преобра-зователи поверхностных волн, расположенные по схеме дуэт. [14]

Их основные показатели представлены в табл. 5.3. Уровень фиксации ( контрольный уровень) - на 6 дБ ниже уровня браковки, т.е. фиксируются более мелкие дефекты. [15]

Страницы: 1 2 3 4