Бетатронная дефектоскопия

Cтраница 1

Бетатронная дефектоскопия является одним из видов неразрушающего контроля просвечиванием. Бетатрон представляет собой индукционный ускоритель электронов, с помощью которого можно контролировать толстостенные изделия. [1]

В бетатронной дефектоскопии время экспозиции так же, как и при обычном просвечивании рентгеновскими и гамма-лучами, зависит от интенсивности излучения, которая в этом случае возрастает по кубическому закону в зависимости от энергии и пропорционально числу импульсов излучения в зависимости от частоты питающего тока. [2]

Особенностью бетатронной дефектоскопии является необходимость применения дифференциальных схем измерения мощности излучения бетатрона. Этот метод увеличивает чувствительность дефектоскопа к выявляемое дефектов. [3]

К недостаткам бетатронной дефектоскопии следует отнести также сравнительно высокую по отношению к другим методам дефектоскопии ( ультразвуковой, просвечивание с помощью радиоактивных источников) стоимость бетатронных установок. [4]

Все возможности сцинтилляционной бетатронной дефектоскопии в данной установке не могут быть полностью реализованы из-за довольно низкой чувствительности приемников излучения. [5]

Зависимость чувствительности снимков от энергии бетатронов. [6]

Усиливающие экраны в бетатронной дефектоскопии, как правило, применяются свинцовые, кассеты - вакуумные. [7]

Следует предполагать, что бетатронная дефектоскопия скоро займет свое место в заводских лабораториях и окажет существенную помощь производству. [8]

Зависимость чувствительности снимков от энергии бетатронов. [9]

Очень важное значение для бетатронной дефектоскопии имеет чувствительность, контрастность и фотографическая широта пленки. [10]

Вторым, весьма существенным преимуществом бетатронной дефектоскопии является высокая чувствительность снимков к выявлению дефектов в просвечиваемом металле благодаря остроте фокуса порядка 0 01 мм - и высокой энергии ( 20 Мэв) первичных квантов, обусловливающей распространение рассеянного излучения в направлении первичного пучка, и тем самым исключающим возможность размытия изображения дефекта на снимке. [11]

Блок-схема бетатронного дефектоскопа. [12]

Для разработки более производительного метода бетатронной дефектоскопии нами были применены сцинтилляционные счетчики. Следует отметить, что разработка у-дефектоскопа для просвечивания больших толщин стали сделана впервые. В настоящей статье излагаются некоторые предварительные результаты, полученные при этих исследованиях. [13]

В Советском Союзе специальных пленок для бетатронной дефектоскопии не изготовляют. При исследованиях рядом ученых [24], 126 ] использовалась обычная пленка-рентген X, давшая приемлемые результаты по чувствительности снимков. [14]

Планировка оснащение и устройство защиты лабораторий для бетатронной дефектоскопии в значительной степени определяется типом используемых бетатронов, характером и объемом проводимых работ, i также габаритами контролируемых изделий. Бетатроны размещают в отдельных одноэтажных зданиях или специально оборудованных помещениях цеха, выпускающего продукцию, подлежащук контролю. [15]

Страницы: 1 2