Cтраница 2
В Томском политехническом институте наряду с созданием индукционных ускорителей разрабатываются методы бетатронной дефектоскопии и интроскопии. [16]
Мэв для целей дефектоскопии, а также исследовано влияние некоторых факторов на чувствительность метода бетатронной дефектоскопии. [17]
Контроль осуществляют следующими методами: ультразвуковым ( УЗД), радиационными: рентгенографией ( Рг), рентгенотелеви-зионными ( Рт), гаммаграфией ( Гг), бетатронной дефектоскопией ( Бд), с использованием линейных ускорителей ( Лу); магнитными и электромагнитными: магнитно-порошковым ( Мп), магнитографическим ( Мг); капиллярными ( Кд): люминисцентным, цветным. [18]
Малые размеры фокусного пятна позволяют получить снимки с очень высокой чувствительностью к выявлению минимальных дефектов в материале. Эту особенность бетатронной дефектоскопии можно хорошо использовать при просвечивании механизмов, особенно в движении. [19]
В конце каждого цикла ускорении пучок ускоренных электронов можно либо вывести через окно за пределы вакуумной камеры, либо направить па металлич. При торможении электронов в мишени возникает рентгеновское излучение, используемое для дефектоскопии металлич. Для целей дефектоскопии электроны ускоряются до энергий 20 - 30 Мае, поэтому проникающая способность рентгеновского излучения В. Техника бетатронной дефектоскопии аналогична технике рентгенодефек-шоскопии И гамма-дефектоскопии, для сокращения времени экспозиции и повышения чувствительности используют флуоресцирующие усиливающие экраны и свинцовую фольгу толщиной 2 - 3 мм. Относит, чувствительность при просвечивании изделий толщиной 200 - 450 мм находится в пределах 2 - 1 5 % от толщины изделия, вследствие чего можно выявить дефекты с лучевыми размерами в 4 - 7 мм. Известны конструкции приборов - стереобетатро-нов, дающих два пучка излучения, направленных под углом друг к другу. Просвечивание прибором такого типа позволяет но только выявлять дефекты, но и определять глубину их залегания в изделии. [20]