Cтраница 1
![]() |
Кристаллическая решетка цинковой обманки. а - лауэграмма. б - решетка. [1] |
Исследование кристаллов лучами Рентгена не только дало прямые доказательства существования атомов, ионов и их расположения в пространстве, не только подтвердило те предположения и выводы, которые были сделаны косвенным путем, но предоставило богатый материал для суждения о строении молекул. [2]
Исследования кристаллов с помощью поляризационных микроскопов и коно-метров. [3]
Исследование кристаллов и сростков гидратных новообразований, возникающих в процессе формирования прочностной структуры цементного камня. [4]
Исследование кристаллов в сходящемся поляризованном свете позволяет определить ориентировку кристалла, его оптическую индикатрису, измерить угол оптических осей, оптический знак, дисперсию оптических осей, вращение плоскости поляризации, коэффициент электрооптического эффекта. [5]
![]() |
Тетраэдриче-ская структура кристаллической решетки льда. [6] |
Исследования кристаллов льда рентгеновскими лучами показали, что в кристаллической решетке каждый атом кислорода окружен четырьмя другими атомами кислорода. Каждый периферийный атом может играть роль центрального, в результате чего образуется кристаллическая решетка льда. Надо полагать, что в жидкой фазе при температурах, близких к 0 С, упомянутые комплексы из пяти молекул также образуют тетраэдры, своего рода жидкие кристаллы. [7]
Для исследования кристаллов вместо света могут быть использованы ренгеновские лучи, поскольку они имеют длину волны приблизительно в 1000 раз меньше, чем видимый свет. Однако их использование связано с некоторыми трудностями; кроме того, область их применения ограничена, в особенности при исследовании живой материи, поскольку они вызывают повреждение или разрушение живых клеток. [8]
Для исследования кристаллов, лишенных правильной внешней огранки, очень удобна камера типа РКОП. [9]
Для исследования кристаллов озазонов мальтозы и лактозы под микроскопом часть осадка пипеткой переносят на предметное стекло, покрывают покровным стеклом и при увеличении в 600 раз ( окуляр х 15, объектив X 40) производят исследование с в ы п о л-нением правил микроскопирования. [10]
Результаты исследования кристаллов A MyXz ( где А - органический катион, М Sb ( III), X С1, Вг, I) представлены в обзоре [129], содержащем 212 ссылок. [11]
Результаты исследования кристаллов AJV Xz ( где А - органический катион, М Sb ( III), Bi ( III), X Cl, Br, I) представлены в обзоре [174], содержащем 212 ссылок. Изменение структуры полианионов рассмотрено в зависимости от стехиометрии, размера и симметрии органического катиона и способности к образованию водородной связи. Фазовые превращения типа порядок - беспорядок рассматриваются в связи с динамикой катионов. Многие из этих кристаллов обнаруживают интересные свойства ( ферроэлектрические, ферриэлектрические, нелинейные оптические), что делает их весьма привлекательными материалами для практического использования. [12]
При исследовании кристаллов средних сингонии удается более или менее надежно определить методом порошков элементарную ячейку лишь в более простых случаях. Зная объем элементарной ячейки, удельный вес и химический состав вещества, нетрудно рассчитать, сколько и каких атомов входит в состав элементарной ячейки, после чего перейти к определению возможных положений частиц. [13]
При исследовании кристаллов типа КС1 - Т1 получены данные, которые показывают, что некоторые центры захвата могут быть приписаны активатору. Так как ионизационный потенциал атома Т1 меньше ионизационного потенциала атома К, то в месте расположения таллия образуется потенциальная яма, в которую захватывается электрон зоны проводимости, перемещающийся по катион-ным узлам решетки. [14]
В исследованиях кристаллов P-SiC методом Гинье - Тенневена блочного строения кристаллов обнаружено не было. [15]