Cтраница 4
При исследовании надежности аппаратуры возникает необходимость в наблюдениях и регистрации данных. Так как в большинстве случаев невозможно получить сведения о всей совокупности, то отбирают и анализируют только часть ее. Если данные представляют всю совокупность, они носят исчерпывающий характер. Для выборки как части совокупности данные не только являются исчерпывающими для элементов выборки, но и в достаточной мере характеризуют элементы всей совокупности. Имеется много типов выборки, но среди них наиболее предпочтительна случайная. [46]
При исследовании надежности объектов, особенно при выборе показателей их надежности, важное значение имеет возможность устранить отказы при необходимости восстановления работоспособности объектов. Необходимо подчеркнуть, что понятия невосстанавливаемый и восстанавливаемый объект не заменяют собой понятий неремонтируемый и ремонтируемый объект. [47]
При исследовании надежности химико-технологической системы обычно выделяют конструкционную и эксплуатационную надежность, надежность технологической структуры системы, проектно-расчетную надежность системы, надежность автоматизированных систем управления технологическими процессами. Практически каждый вид надежности прямо связан с коррозионной стойкостью конструкционных материалов. Особенно в большой мере влияет коррозия на конструкционную и эксплуатационную надежность. [48]
При исследовании Надежности технических устройств обычно не учитывают влияние катастроф, при которых все без исключения устройства отказывают. [49]
При исследовании надежности любой конструкции, в том числе и систем компрессорной станции, важно определить характеристику надежности. [50]
При исследовании надежности оптоэлектронных приборов выделяют два вида отказов: частичные ( параметрические) отказы и полные или катастрофические отказы. Первый вид отказов - частичные или параметрические отказы - определяется по отклонению хотя бы одного из основных параметров прибора за пределы заданной нормы. Параметры, которые характеризуют частичный отказ, называются критериями годности прибора. [51]
При исследовании надежности силовых полупроводниковых приборов вначале необходимо рассмотреть вопрос аварийности отдельных приборов. [52]