Исследование - отражение
Cтраница 1
Исследования отражения, света под углом Брюстера показали, что имеются небольшие отклонения от предсказаний формул Френеля. Оказалось, что не существует такого угла падения, при котором интенсивность отраженной волны с электрическим вектором, колеблющимся в плоскости падения, была бы равна нулю, а электрический вектор отраженной волны колебался бы по линии перпендикулярной плоскости падения. Если в падающей линейно поляризованной волне вектор Е перпендикулярен плоскости падения, то отраженная под углом Брюстера волна является эллиптически поляризованной, что находится в противоречии с формулами Френеля, которые предсказывают линейную поляризацию. Ясно также, что существование у эллиптически поляризованной волны компоненты вектора Е в плоскости падения объясняет отсутствие угла, при котором интенсивность отраженной волны соответствующей поляризации была бы равна нулю. [1]
Исследование отражения света и толщины поверхностного слоя системы гексан - нитробензол. Использование коэффициента отражения для оценки толщины поверхностных слоев жидкости. [2]
Трекслер [262] произвел исследование отражений от Луны при импульсном режиме работы на частоте 198 Мгц. Коэффициент направленного действия антенны равен 40 дб ширина луча 1 4, мощность передатчика 1 2 Мет, длительность импульса 10 мксек. На графике рис. 26.17, б представлена зависимость относительной величины энергии принимаемого сигнала от времени, начало отсчета которого совпадает с моментом прихода сигнала. Результаты измерений, произведенных Япли [279] на частоте 2 86 Ггц с помощью 15 3 - ж параболоида и передатчика мощностью 2 3 Мет при длительности импульса порядка 2 мксек, показывают, что ослабление сигнала при распространении до Луны и обратно равно 200 дб. [3]
Часть экспериментов по исследованию отражения скачков уплотнения и возникновения скачков на изломах стенки была проведена в трубе УВ-16Т. Сечение рабочей части 180 х 230 мм при таком сечении достигалась скорость, соответствующая числу M Q 1.53. Боковые стенки трубы снабжены оптическими стеклами для визуальных наблюдений потока. [4]
Рассмотрим два типичных для исследования отражения света от поверхности растворов случая, в одном из которых преобладающим является изменение состава, а в другом - изменение толщины поверхностного слоя. [5]
Испытуемые образцы, служившие для исследования отражения, представляли собой диски диаметром 20 - 30 мм и толщиной 5 - 10 мл. [6]
Из сказанного следует, что исследование отражения ударной волны яри помощи скоростного фотографирования позволяет не только определять скорости бегущей и отраженной ударных волн, но дает важные качественные данные о процессе: форму отраженной ударной волны, развитие Я-ножки, картину возмущений в области за отраженной ударной волной до и после встречи отраженной волны с контактной зоной. [7]
В этом состоит самостоятельный интерес исследования отражения света полупроводниковыми кристаллами в инфракрасной области спектра. [8]
Камера-приставка к спектрометру РСМ-500 [21 ] для исследования отражения и рассеяния устанавливается непосредственно на подвижную часть спектрометра и при сканировании перемещается, в связи с чем она сделана из легкого сплава. На рис. 1.14 показана схема камеры-приставки. [9]
Задача социолингвистики состоит не только в исследовании отражений в языке различных социальных явлений и процессов, но и в изучении роли языка среди социальных факторов, обусловливающих функционирование и эволюцию общества. Таким образом, социолингвистика изучает весь комплекс проблем, отражающих двусторонний характер связей между языком и обществом. [10]
Готтесфилд и Конвей [ 464] разработали метод для исследования отражения от поверхности ртути, используя электроосажденную на платине ртуть, что дает пленки, лишенные жидкостных свойств и, следовательно, эффектов электромеханического модулирования вследствие изменения поверхностного натяжения, ограничивающего ценность метода электромодуляции на жидкой ртути. [11]
Ценные результаты были получены Флоринской, занимавшейся исследованием отражения и поглощения инфракрасных лучей разнообразными стеклами и кристаллическими средами. [12]
 |
Кювета для получения напыленных пленок, используемых при снятии ИК-спектров пропускания. Hay ward D. О. ( 1963, частное. [13] |
Пиккеринг и Экстрой ( 1959) в исследованиях отражения применяли полученные испарением полностью спеченные никелевые пленки. [14]
 |
Октаэдр [ Ме6С ] с атомом углерода в центре. Показаны направления rfy - и йе-орбиталей атомов металла. [15] |
Страницы: 1 2