Cтраница 2
Лай [14-16] рассмотрел связи в TiC и предпринял попытку модифицировать обе модели ( Бильца и Коста и Конте), использовав при этом результаты исследования оптического отражения, чтобы оценить ( в электронвольтах) относительное расстояние между зонами. [16]
Опыты по измерению величины ( 1 296) или ( что предпочтительнее) величины ( 1 29а) имеют, по-видимому, такую же точность, как и любые опыты по определению малых значений k, основанные на исследовании отражения поляризованного света. [17]
Проведенные оптические [438, 437] и магнитооптические исследования [415] показали, что в структуре зон имеется аналогия с ZnSe. Результаты исследований отражения и пропускания [437] дают структуру, аналогичную вышеописанным. [18]
Это выражение представляет собой Френеля формулы, записанные через И. При исследовании отражения от нлоскослоистых неоднородных сред часто ур-ния для полей преобразуют в ур-нпя для полевых И. Фактически фиксация осуществляется ( в большинстве случаев приближенно), когда структура поля под поверхностью неизменна и определяется к. Так, при падении волны на хорошо поглощающую среду волна уходит в глубь среды почти по нормали, независимо от угла падения, следовательно, входной И. [19]
Хорошо извеотно, что разработка спектрометров-моно-хроматоров о высоким энергетическим разрешением ( не хуже 0 01 нм) в мягкой и ультрамягкой рентгеновских областях осложняется тем, что ввиду большого поглощения прибор должен быть вакуумным. Кроме того, необходимо обеспечить возможность исследования отражения излучения, выходящего из монохрома-тора. [20]
Так как в наружных слоях образцов часто выкристаллизовываются одни силикаты, а во внутренних - другие, то изучению подвергались как корковые, так и подкорковые части. При исследовании отражения корковых частей дисков последние после тепловой обработки никакой полировке не подвергались. Вследствие большого количества трещин на поверхности часть света диффузно отражалась. Поэтому часто кривые селективного отражения поверхностных слоев закристаллизованных образцов оказывались заниженными. [21]
Сказанное выше, конечно, не исчерпывает проблему линеаризированных движений. Возможны линеаризированные движения и не типа колебаний ( в этом случае система определяющих линеаризованных уравнений не будет однородной): возможны распространения возмущений и других типов, например, энтропийные или температурные волны. Представляет интерес исследование отражения и преломления всех этих типов волн на различных неоднородностях среды. Анизотропия проводимости также может оказать существенное влияние на затухание волн различных типов. [22]
Небольшие размеры трехмодового турникетного поляриметра позволяют использовать его как при лабораторных, так и полевых измерениях. Вследствие быстро действия поляриметр, в частности, полезен там, где входной сигнал быстро флуктуирует. Описанное устройство может найти непосредственное применение в таких областях, как антенны, распространение радиоволн, ферритовые устройства, исследования радиолокационных отражений, радиоперехват, средства радиопротиводействия, связь и радиоастрономия. [23]
Измерены спектры КР и ИК поглощения в поляризованном свете монокристалла LiNbGeO5, а также спектры изотопозамещенных по литию ( 6Li - 7Li) поликристаллических образцов. Выполнено отнесение колебательных частот. С ростом тепретаруры ( до 400 С) наблюдается закономерное уширение всех полос спектра, но полосы в области 70 - 150 см 1, отнесенные к колебаниям подрешетки лития типа Ag и Big заметно смещаются в область больших длин волн, а их интенсивность аномально возрастает. При исследовании ИК отражения монокристаллов также отмечено аномальное изменение интенсивности в областях 175 - 190, 115 - 120, 68 - 75 и ниже 50 см с ростом температуры при поляризации падающего излучения / / х и / / у. Температурное поведение полос спектра связано с наличием в структуре дополнительных междуузельных позиций катионов лития, заселенность которых возрастает с увеличением температуры. [24]
Когда волна дойдет до конца ( рис. 21 - 10 в), она частично отразится. В рассматриваемом случае падающая волна движется в направлении возрастания координаты х - в прямом направлении и может называться прямой. Отраженная волна движется в обратном направлении и может называться обратной. Однако при исследовании отражения волны удобнее пользоваться понятием падающая и отраженная волна, а не / прямая - и обратная. [25]