Исследование - поверхность - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Лучшее средство от тараканов - плотный поток быстрых нейтронов... Законы Мерфи (еще...)

Исследование - поверхность

Cтраница 1


Исследование поверхности слоев методом дифракции медленных электронов. Как известно, из-за низкой энергии медленных электронов и их сильного рассеивания опыты по дифракции необходимо проводить в вакууме 10 - 9 - 10 - 10 мм рт. ст.; по той же причине прямая фотографическая регистрация продифрагировавшего пучка сопряжена с трудностями. К сожалению, из-за малой точности определения периодов решетки с помощью дифракции медленных электронов нельзя прямо проверить характер соответствия кристаллических решеток. С этой целью обычно прибегают к косвенному анализу электронограмм с реконструкцией на основе таких данных структуры слоев, образующихся на кристаллической поверхности. Так были изучены также структура чистых поверхностей и различные поверхностные реакции. Наиболее полные сведения дало изучение структур адсорбированных слоев различных газов на поверхностях монокристаллов.  [1]

2 Свободные от дислокаций. [2]

Исследование поверхности показало [31], что происходит резкое негомогенное распределение полос скольжения.  [3]

Исследование поверхностей разрыва28 позволяет уточнить характерные особенности пластического разрыва и перехода с уменьшением напряжения от одного вида разрыва к другому. При этом пластический разрыв переходит в медленный высокоэластический разрыв, характерный для низкомодульной резины.  [4]

Исследование поверхностей разрывов с выделением ( поглощением) энергии в магнитной гидродинамике, Прикл.  [5]

Исследование поверхности металла под слоем продуктов коррозии, а также изучение состава продуктов коррозии и накипи требуют эффективных методов удаления последних с поверхности образцов котельной стали.  [6]

7 Топографическая картина структуры Si ( lll 7 x 7, полученная при туннельном напряжении 2 В и туннельном токе 2 нА. Острие имеет отрицательный потенциал относительно поверхности Si, поэтому контраст меняется от точки к точке в соответствии с изменением плотности незанятых состояний на поверхности Si. Расстояние между соседними черными и белыми пятнами составляет 1 5 ангстрема. ( Любезно предоставлено д-ром С. П. Теаром. [7]

Исследование поверхностей полупроводников методом СТМ почти всегда технически легче ( если так можно сказать), чем металлических поверхностей.  [8]

9 Микрофотография строительного состава модифицированного латексом бутадиен-стирольного сополимера SM-100, лежащего на бетонной подложке и разрушенного при 90 С по поверхности раздела образец - подложка. [9]

Исследование поверхностей разрыва показывает, что разрушение происходит по границе раздела ( или вблизи от нее) между частицами песка и цементной матрицей, содержащей полимер. Частицы песка обладают меньшим блеском в образцах, содержащих полимер, что указывает либо на травление поверхности, либо, что более вероятно, на наличие тонкого прочно связанного слоя матрицы.  [10]

11 Микрофотографии поверхности пленок с разным исходным содержанием ДОФ после экстрагирования метанолом. [11]

Исследование поверхности пленок после экстрагирования пластификатора действительно приводит к интересным результатам.  [12]

Исследование поверхностей переноса, произведенное докладчиком для трехмерного пространства ( об одном обобщении поверхностей переноса, Журн. II, № 3, 1926), может быть распространено на многомерные пространства.  [13]

Исследование поверхности латуни ( после отделения прикрепленной к ней резины) методом дифракции электронов 4 привело к заключению, что крепление в данном случае происходит благодаря тонкому слою сульфида меди ( Cu2S), который связывается с молекулами каучука через атом серы.  [14]

Исследования поверхности коллектора показали, что поверхностная пленка окиси меди испещрена малыми пятнами эллиптической формы, вытянутыми в направлении вращения коллектора. Электрическое сопротивление таких пятен по сравнению с сопротивлением самой пленки практически равно нулю.  [15]



Страницы:      1    2    3    4    5