Cтраница 1
Исследование поверхности слоев методом дифракции медленных электронов. Как известно, из-за низкой энергии медленных электронов и их сильного рассеивания опыты по дифракции необходимо проводить в вакууме 10 - 9 - 10 - 10 мм рт. ст.; по той же причине прямая фотографическая регистрация продифрагировавшего пучка сопряжена с трудностями. К сожалению, из-за малой точности определения периодов решетки с помощью дифракции медленных электронов нельзя прямо проверить характер соответствия кристаллических решеток. С этой целью обычно прибегают к косвенному анализу электронограмм с реконструкцией на основе таких данных структуры слоев, образующихся на кристаллической поверхности. Так были изучены также структура чистых поверхностей и различные поверхностные реакции. Наиболее полные сведения дало изучение структур адсорбированных слоев различных газов на поверхностях монокристаллов. [1]
![]() |
Свободные от дислокаций. [2] |
Исследование поверхности показало [31], что происходит резкое негомогенное распределение полос скольжения. [3]
Исследование поверхностей разрыва28 позволяет уточнить характерные особенности пластического разрыва и перехода с уменьшением напряжения от одного вида разрыва к другому. При этом пластический разрыв переходит в медленный высокоэластический разрыв, характерный для низкомодульной резины. [4]
Исследование поверхностей разрывов с выделением ( поглощением) энергии в магнитной гидродинамике, Прикл. [5]
Исследование поверхности металла под слоем продуктов коррозии, а также изучение состава продуктов коррозии и накипи требуют эффективных методов удаления последних с поверхности образцов котельной стали. [6]
Исследование поверхностей полупроводников методом СТМ почти всегда технически легче ( если так можно сказать), чем металлических поверхностей. [8]
Исследование поверхностей разрыва показывает, что разрушение происходит по границе раздела ( или вблизи от нее) между частицами песка и цементной матрицей, содержащей полимер. Частицы песка обладают меньшим блеском в образцах, содержащих полимер, что указывает либо на травление поверхности, либо, что более вероятно, на наличие тонкого прочно связанного слоя матрицы. [10]
![]() |
Микрофотографии поверхности пленок с разным исходным содержанием ДОФ после экстрагирования метанолом. [11] |
Исследование поверхности пленок после экстрагирования пластификатора действительно приводит к интересным результатам. [12]
Исследование поверхностей переноса, произведенное докладчиком для трехмерного пространства ( об одном обобщении поверхностей переноса, Журн. II, № 3, 1926), может быть распространено на многомерные пространства. [13]
Исследование поверхности латуни ( после отделения прикрепленной к ней резины) методом дифракции электронов 4 привело к заключению, что крепление в данном случае происходит благодаря тонкому слою сульфида меди ( Cu2S), который связывается с молекулами каучука через атом серы. [14]
Исследования поверхности коллектора показали, что поверхностная пленка окиси меди испещрена малыми пятнами эллиптической формы, вытянутыми в направлении вращения коллектора. Электрическое сопротивление таких пятен по сравнению с сопротивлением самой пленки практически равно нулю. [15]