Исследование - поверхность
Cтраница 5
 |
Зависимость прочности оцепления никелевых. [61] |
В случае исследований поверхности, имещей более высокий класс чистоты, воздух, оттесняясь к поверхности металлической основы, видимо, успевал выйти га ее пределы. [62]
Для возможности исследования поверхности изоляции, обращенной к грунту, наиболее удобно использовать поляризационный осветитель отраженного света ОЙ-12. Этот осветитель может осуществлять прямое освещение поверхности объекта ( при помощи плоскопараллельной пластинки 28) и сильное косое освещение ( при помощи осветительной призмы 27) для изучения микрорельефа. Луч света от источника 18 ( лампа СЦ80) проходит коллектор 19, шторку 20, поляризационную призму Франко - Риттера 21, систему линз, апе р-турную 23 и полевую 25 диафрагмы, систему 24, 26 и, пройдя сквозь осветительную призму 27 ( или отразившись от плоскопараллельной пластинки 28), падает на исследуемый объект. Отразившись от него, свет вторично проходит сквозь объектив 29 и направляется в глаз наблюдателя через окуляр. При наблюдении в обыкновенном свете призма Франко - Риттера 21 выключается из хода лучей. Необходимо иметь в виду, что при применении осветителя отраженного света для обеспечения хорошего качества изображения требуются специальные объективы, рассчитанные на данный осветитель. [63]
Основные результаты исследований поверхности полупроводников, полученные к 1965 г., отражены в монографиях Фрэнкла [570] и Мэни, Голдстейна и Гровера [1160] и служат фундаментом тех квантовых моделей, которые будут рассмотрены ниже. [64]
Основная часть исследований поверхностей раздела в композитах с металлической матрицей была выполнена за последнее пятилетие; по мере того как исследователи переходили к разработке практически важных композитов на основании приобретенных знаний, активность работ в этой области стала снижаться. Задача настоящего тома заключается в том, чтобы подытожить современное состояние науки о поверхностях раздела и тем самым создать необходимую основу для успешного внедрения композитов с металлической матрицей. [65]
Оптическим методом исследования поверхности твердых тел является эллипсометрия. На поверхность направляют линейно поляризованный свет определенной длины волны и определяют характер поляризации отраженного света в зависимости от длины волны падающего света. [66]
Страницы: 1 2 3 4 5