Исследование - структура - полимер - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Нет такой чистой и светлой мысли, которую бы русский человек не смог бы выразить в грязной матерной форме. Законы Мерфи (еще...)

Исследование - структура - полимер

Cтраница 1


Исследование структуры полимеров в растворах ( совместно с С.  [1]

2 Структуры некоторых полимерных молекул, связанных водородной связью, в газообразном состоянии. Обратите внимание па то, что. [2]

Исследования структуры полимеров, образующихся за счет водородной связи, приводят к результатам, подобным тем, что изображены на рис. 15.19. Аналогичные структурные композиции обнаруживаются в конденсированных фазах многих веществ.  [3]

Исследование структуры полимеров только дифракционны - vin методами не может дать полного представления об их строении.  [4]

Исследование структуры полимеров при помощи рентгенограмм Вайсенберга надо проводить на цилиндрических пленках, чтобы охватить по возможности больший угловой диапазон отражений; рентгенограммы, снятые на плоских пленках, часто используемые при изучении текстуры, не адэкватны рентгенограммам, снятым на цилиндрических пленках.  [5]

6 ИК-спектр ориентированной пленки полиоксиметилена. а - электрич. вектор излучения параллелен направлению вытягивания пленки, б - электрич. вектор излучения перпендикулярен направлению вытягивания пленки. Цифры на кривых. [6]

Для исследования структуры полимеров и органич. ИК-поглощение обусловлено изменением электрич дипольного момента системы колеблющихся атомов, а КР-эффект - изменениями электрич. При исследовании полимеров метод ИК-спектроскопии Играет пока ведущую роль. Это обусловлено преимуществами экспериментальной техники ИК-спектроскопии и нек-рыми трудностями интерпретации КР-спектров полимеров.  [7]

Обобщен ряд исследований структуры полимеров, проведенных методами дифракции рентгеновских лучей под малыми и большими углами, а также оптическим и электронно-микроскопическим методами. Рассмотрены деформации кристаллических полимеров при одноосной вытяжке и вальцевании ( К сожалению, эти процессы не сопоста влены друг с другом или с макроскопическими закономерностями процесса деформации. При вытяжке и вальцевании как сферолитных образцов, так и монокристаллов при малых степенях деформации происходит сдвиг и изгиб ламелей; затем начинается сдвиг и двойникование на молекулярном уровне внутри ламелей, распрямление молекул и образование фибрилл, и, наконец, при высоких степенях деформации сдвиг между молекулами внутри фибрилл. В зависимости от сил связи между ламе-лями разрушение может происходить на различных стадиях этого процесса. Оказалось, что хрупкое разрушение происходит по границе между ламелями, когда силы связи между ними слабы, или между областями складывания внутри ламели.  [8]

Наиболее прямыми методами исследования структуры полимеров являются: рентгеноструктурный анализ, электронная и оптическая микроскопия.  [9]

Как показывают результаты исследования структуры полимеров, подобные явления почти не встречаются при полимеризации на хромокисных катализаторах, но имеют существенное значение для катализаторов Циглера. Следовательно, структурные особенности полимеров обусловлены различиями в механизме тех и других процессов, а не влиянием температуры.  [10]

11 Схема плоского полярископа. Р - плис-кость поляризатора, А - плоскость анализатора, R - направление отсчета. о - амплитуда падающей световой волны. O. TOOCOS ( р - 0 и aj a0sin ( Р-6 - амплитуды световой волны для лучей, поляризованных в направлениях главных напряжений Рх и PJ, соответственно. d0 - толщина образца, 6 - разность хода. К - компенсатор. [11]

ПОМ применяют при исследовании структуры полимеров; напр. Такие изделия заменяют увеличенными или уменьшенным. Зависимость между напряжениями в реальном изделии и в модели находят с помощью теории моделирования. Модель обычно изготовляют из прозрачных полимеров, находящихся в стеклообразном или высокоэластич.  [12]

13 Схема плоского полярископа. Р - плоскость поляризатора, А - плоскость анализатора, R - направление отсчета. о, - амплитуда падающей световой волны. ахалсоа ( Р-6 и aj aesm О-6 - амплитуды световой волны для лучей, поляризованных в направлениях главных напряжений Рх и Р соответственно. 2 - толщина образца, б - разность хода. К - компенсатор. [13]

ПОМ применяют при исследовании структуры полимеров; напр. Зависимость между напряжениями в реальном изделии и в модели находят с помощью теории моделирования. Модель обычно изготовляют из прозрачных полимеров, находящихся в стеклообразном или высокоэластич.  [14]

В последние годы для исследования структуры полимеров применяется электронная микроскопия [133], но в основном для кристаллических объектов. При исследовании изменений структуры ионита при комплексообразо-вании этот метод до сих пор, насколько нам известно, не применяли.  [15]



Страницы:      1    2    3    4