Исследование - тонкая структура
Cтраница 1
 |
Изменение логарифма каталитической активности при 500 С ( 7 и энергии активации ( 2 дегидрирования цик-логексана в ряду KF - TiC. [1] |
Исследование тонкой структуры рентгеновского ЛГ-спектра поглощения показало, что в этих соединениях в валентное взаимодействие вступают s - и р-электроны металла и неметалла. [2]
Исследования тонкой структуры и свойств металла в различных участках зоны термического влияния сварных соединений из стали ОООХ18Н10 и образцов из этой стали, обработанных по изотермическому циклу, имитирующему сварочный, показывают, что характер изменения основных параметров подобен характеру изменения соответствующих характеристик высокоуглеродистой стали типа Х18Н10, но абсолютные величины их существенно меньше ( рис. 81), в том числе уровень концентрации углерода на границах зерен, что подтверждается отсутствием карбидных выделений в околошовной зоне. [3]
Исследование тонкой структуры сплава АЛ27 - 1 в связи с его коррозионным растрескиванием / / ФХММ. [4]
Исследования тонкой структуры течения за фронтов ДВ показали, что добавление А1 также понижает и значения давлений ПД на профилях p ( t), получаемых индикаторным методом. [5]
 |
Изменение рентгеноструктурных характеристик игольчатого ( 1 и рядового ( 2 коксов в процессе термообработки. [6] |
Исследование тонкой структуры коксов при термообработке в области 500 - 2400 С показало ( рис. 1), что особенности структуры исходных коксов обуславливают существенное различие их структурной перестройки. К примеру, для игольчатого кокса характерно более плавное изменение межслоевого расстояния ( d002) в низкотемпературной области. Рядовой кокс только при 600 С достигает уровня межслоевого расстояния, характерного для исходного игольчатого кокса. Это запаздывание структурирования рядового кокса сохраняется и при дальнейшей термообработке до 1400 С. Напредкристаллизационной и кристаллизационной стадиях коксы практически не различаются по значению d002 Однако более высокий фактор формы, появление слабого отражения ( 202) свидетельствуют о наличии более совершенной структуры у графитированного игольчатого кокса. [7]
Исследование тонкой структуры мельчайших пор, величины и свойств внутренней поверхности раздела требует применения молекул различных веществ, проникающих в поры и адсорбирующихся на внутренней поверхности исследуемого тела. На исследовании адсорбционных процессов различного рода: адсорбции паров, адсорбции из растворов, теплот адсорбции, и на анализе полученных результатов с точки зрения возможного влияния на них строения высокодисперсного тела основаны адсорбционные методы исследования структуры, интенсивно разрабатываемые в последнее время. Можно надеяться, что комплексное применение рентгено-и электронноструктурного метода для исследования скелета, с одной стороны, адсорбционных методов для исследования структуры поверхности и тонкой пористости, с другой стороны, и, наконец, методов электронной микроскопии и различных методов продавливания и прососа для исследования более грубых пор, с третьей, даст возможность всестороннего исследования строения и свойств таких тел. [8]
Исследования тонкой структуры спектральных линий и особенно непосредств. Опыт показал, что кроме расщепления наблюдается сдвиг уровнен анергии - квантовый эффект, связанный с реакцией излучения. [9]
 |
Распределение фазы колебаний по поверхности полусферы. [10] |
Исследование тонкой структуры фокального пятна показало [41], что распределение звукового давления очень близко к расчетному. На рис. 46 показаны расчетные ( 7) и экспериментальные ( 2) данные. Расхождение имеет место лишь во вторичных максимумах. В левом верх-йем углу показан разрез фокальной области по оси излучателя, полученный методом Теплера. Хорошо видна структура фокального пятна. [11]
Исследование тонкой структуры кривой поглощения во времени, кроме того, позволяет сделать еще некоторые выводы о процессах рекомбинации и химических реакциях. [12]
Исследования тонкой структуры характеристических спектров показали, что, например, линии серии Ка расщепляются на / d, и Каг. Эта тонкая структура играет большую роль в прецизионном фазовом анализе. [13]
Исследования тонкой структуры областей когерентного рассеяния ( ОКР) и микродеформаций кристаллических фаз, входящих в состав ситалла, методами рентгеновской дифрак-тометрии показывают, что микродеформации ситалла имеют тенденцию роста о увеличением температуры термообработки до 400 С, а затем происходит их уменьшение. [14]
Исследование тонкой структуры рентгеновских спектров железа в нитридах и родственных им соединениях, по сути дела, только начато. На рис. 4 приведены абсорбционные кривые для чистого железа, двух его нитридов и некоторых других фаз. При сравнительном исследовании изменения коэффициента поглощения в пределах основного края удобно представить результаты в виде относительных смещений наиболее характерных точек кривой. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5