Исследование - тонкая структура
Cтраница 2
Для исследования тонкой структуры дальних боковых лепестков, а следовательно, и определения зависящих от них КУ и шумовой температуры антенны эти методы явно недостаточны. [16]
Для исследования тонкой структуры используют так называемый гармонический анализ формы рентгеновских линий ( ГАФРЛ), преимущественно с использованием ЭВМ. [17]
Для исследования тонкой структуры сплавов при помощи рентгеновских лучей не требуется травления, и глаз не участвует в наблюдении накаленного металла. Поэтому возможны два пути для рентгеновского метода определения состояния сплавов. [18]
 |
Последовательные продольные сечения ледебуритной колонии. Травлено ниталем, XI00. [19] |
Результаты исследований тонкой структуры цементитных пластин показывают, что они характеризуются четко выраженной текстурой роста. [20]
Прямым методом исследования тонкой структуры материалов является рентге-ноструктурный анализ. Он основан на том принципе, что при прохождении монохроматического рентгеновского излучения через вещество происходит его отражение от различно ориентированных в кристаллической решетке плоскостей и затем интерференция отраженных лучей. Расположение, число, интенсивность линий интерференции строго определяются типом и параметрами решетки поликристаллического тела, что позволяет на рентгенограммах идентифицировать состояние кристаллического материала. Существует много приемов и методов рентгеноструктур-ного анализа, применяемых для изучения особенностей тонкой структуры вещества. [21]
В большинстве случаев исследование тонкой структуры самых поверхностных слоев твердого тела находится за пределами возможностей световой микроскопии. [22]
Таким образом, исследование тонкой структуры крыла линии Релея дает возможность изучать кинетику распространения высокочастотных поперечных колебаний в жидкостях, состоящих из анизотропных молекул. [23]
Таким образом, исследование тонкой структуры краев рентгеновских спектров поглощения дает принципиальную возможность определять эффективные заряды т) как свободных, так и входящих в состав молекул атомов, не затрагивая при этом их валентных электронов - как это было бы при использовании для этой цели оптических спектров. [24]
Рассмотрены новые методы исследования тонкой структуры углеродных материалов. Предложены достаточно технологичные решения по утилизации нефтешламов. [25]
 |
Зависимость вязкости lgr опытных эмалей 2, 5 - 7 от coeiaua n температуры.| Кривые ДТА опытных эмалей / - 7. [26] |
Полученные результаты дополняют результаты исследования тонкой структуры. [27]
Спектрофотометрический метод, примененный для исследования тонкой структуры, оказался очень удобным для изучения фотографического процесса на различных его стадиях. [28]
 |
Изменение механической прочности ( I и анизотропии ( 2 УЭС с увеличением содержания в структуре кокса алмазоподобных структур. [29] |
Таким образом, в результате исследований тонкой структуры коксов высказывается мысль о наличии в структуре нефтяных коксов разных типов графитоподобных и алмазоподобных структур в различных соотношениях. Цроведен анализ примерного содержания алмазоподобных структур. Не исключается наличие цепочечных структур, для определения которых необходимо дальнейшее исследование. Высказывается предположение о взаимосвязи механической прочности и электропроводности коксов с содержанием алмазоподобных структур. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5