Исследование - текстура
Cтраница 2
Известны и другие методы исследования текстур Так например, если зерна металла позволяют выявить фигуры травления, то ориентировку кристаллитов можно определить методом максимального блеска. Сущность этого метода заключается в следующем. [16]
Одним из лучших методов исследования текстур электролитических осадков является рентгеноструктурный анализ. [17]
На рис. 2 приведены результаты исследования текстуры полос иттрия, полученных реверсивной и перекрестной прокаткой. Сопоставление этих данных с описанными выше указывает на следующее. В случае реверсивной прокатки ориентировка ( 0001) ср НН-ПН [1010] начинает формироваться уже при малых деформациях. Повышение степени обжатия способствует лишь ее усилению, при этом совершенство текстуры возрастает. При обжатиях на 80 - 89 % различий В текстуре полос, полученных прямой и реверсивной прокаткой, не наблюдается. Отметим, что в области обжатий 20 - 70 % при реверсивной прокатке деформация иттрия осуществляется легче. [18]
В работе [52] метод Ламбо использован для исследования текстуры фтористого лития. [19]
 |
Сетка Вульфа. [20] |
В главе 9 приведены графики и сетки для исследования текстур и построения полюсных фигур. [21]
В целом можно считать, что существует ряд достаточно проверенных методов исследования текстуры крупно - и мезопори-стых углей и дисперсных беспористых углеродных материалов, хотя теория этих методов, особенно для адсорбции из растворов, нуждается в дальнейшем развитии. [22]
Изменяя угол падения рентгеновских лучей и заменив цилиндрическую кассету на плоскую, можно проводить исследование текстуры. [23]
Описанные выше методы рентгено-структурного анализа применяются при решении следующих задач: определение фазового состава сплавов границ растворимости в системах с ограниченной растворимостью, измерение напряжений, определение линейных размеров кристаллитов, исследование текстур. С помощью рентгеноструктурного анализа могут быть зафиксированы все превращения в твердом состоянии, связанные с изменением кристаллической структуры. [24]
Наблюдение микроструктуры деформированных металлов с помощью электронной микроскопии, вероятно, достаточно хорошо отражает общую картину из-за случайного выбора небольших участков материала, прозрачных для электронов, в образцах, полученных обычными методами приготовления тонких фольг. Исследования текстуры также дают усредненную информацию. Следовательно, есть опасение, что локальные особенности структуры ( например, переходные и деформационные полосы) при использовании этих методов останутся незамеченными. Было обнаружено, что переходные полосы являются областями зарождения при рекристаллизации [13, 14] в прокатанных кристаллах кремнистого железа, ориентированного по направлениям куба. [25]
Ранее проведенными исследованиями кинетики окисления дисилицидов Мо и W выявлена аналогия в поведении этих силицидов. Исследования текстуры роста MoSi2 и изменения ее в зависимости от температуры получения образцов и температуры их дальнейшей обработки, фазового состава окислов, опубликованные в [1, 3] и приведенные в настоящей работе для WSi2 подтвердили полную аналогию свойств этих двух дисилицидов. [26]
Мо и W выявлена аналогия в поведении этих силицидов. Исследования текстуры роста MoSia и изменения ее в зависимости от температуры получения образцов и температуры их дальнейшей обработки, фазового состава окислов, опубликованные в [1, 3] и приведенные в настоящей работе для WSi2 подтвердили полную аналогию свойств этих двух дисилицидов. [27]
Дифрактометр предназначен для исследования текстур ( преимущественных ориентировок) в металлах, минералах и других кристаллических материалах. Использование дифрактометра позволяет осуществлять автоматическую регистрацию полюсной фигуры с высокой точностью и малой затратой времени. Принцип действия ДЕ: фрактометра основан на получении полюсных фигур неравномерной плотности. Конструкция дифрактометра обеспечивает получение полной полюсной фигуры при съемке на просвет и на отражение. Автоматическое построение полюсной фигуры заменяет длительный и трудоемкий процесс построения полюсной фигуры вручную. Наличие съемки по точкам и вывода данных на перфоратор позволяет проводить обработку результатов с помощью вычислительных машин. [28]
Свойства верхнего тонкого слоя вещества далеко не всегда правильно характеризуют более глубокие слои вещества. Поэтому во избежание ошибок электроно-графическое исследование текстур следует вести послойно там, где это возможно. [29]
Камера РКСО ( рис. 7) предназначена для съемки неподвижных монокристаллов в полихроматическом или смешанном излучении. Камера может быть применена и для съемки поликристаллов, в частности, при исследовании текстур. [30]
Страницы: 1 2 3