Cтраница 3
Используя теорию образования и роста кристалла, развитую m работах Странского и Каишева и Каишава и Близнакова, Н. А. Пангаров показал, что ориентация кристаллитов зависит от работы образования двумерных зародышей кристаллографических граней на поверхности катода. Произведенные вычисления работы образования различных видов зародышей для металлов, кристаллизующихся в кубической, тетрагональной, гексагональной системах, хорошо описывают экспериментальные результаты исследования текстур в электроосажденных металлах. [31]
Выводы, сделанные на основе исследования плотности кокса этим методом, не противоречат основным результатам рентге-ноструктурного анализа, а также данным, полученным новыми современными методами исследования тонкой структуры коксов. Это объясняется тем, что величина и характер пористости коксов из различных нефтепродуктов, так же как и величина плотности, тесно связаны с природой исходного сырья, механизмом процесса коксования и последующими изменениями структуры углеродистого вещества при тепловом воздействии на кокс. Уже исследования текстуры нефтяных коксов, выполненные нами, показывают, что пространственное распределение плотной массы и микропор ( при увеличении в 60 - 200 раз) довольно четко отражает различия в природе исходного сырья для коксования. [32]
Камера предназначена для съемки неподвижных монокристаллов па полихроматическом или смешанном излучениях. Она может быть также использована для съемки поликристаллов, в частности при исследовании текстур. [33]
Таким образом, в направлении полного структурного исследования метод порошка имеет сравнительно ограниченное применение. Зато при решении других задач, побочных, с точки зрения классического структурного анализа, этот метод применяется очень широко. К таким вопросам относятся задачи идентификации и определения фазового состава образцов, выявление кристаллических модификаций, существующих при разных температурах, исследование текстур ( преимущественных ориентировок кристаллов в поликристаллическом агрегате), определение размеров кристалликов. Метод порошка применяется также при прецизионных определениях констант решетки высокосимметричных ( главным образом, кубических) кристаллов и при рентгенографическом определении коэффициента теплового расширения. [34]
Есть три возможных варианта эволюции текстур при отжиге. В первом случае, несмотря на возврат, сохраняется или даже усиливается текстура деформации. И, наконец, в третьем случае при отжиге текстура деформации исчезает и ( происходит возврат к случайному распределению ориентации. Однако это происходит значительно реже, чем принято считать, и, как правило, связано с образованием очень крупных зерен, что затрудняет исследование текстуры с помощью обычных методов. [35]
В этой главе приведены сводки данных о рентгенографических исследованиях текстур электролитических осадков пятнадцати металлов. Эти сводки не претендуют на полноту, но охватывают большую часть материалов, опубликованных в разное время. Данные различных исследователей не всегда согласуются между собой. Расположение сводок произвольное, но в начале приведены данные по тем металлам, текстуры которых изучены более подробно. В конце главы приведена сводка электро-нографичес ких исследований текстур электроосажденных металлов, и даны краткие сведения о новых, пока еще немногочисленных исследованиях текстур электролитических сплавов. [36]
Вышеприведенные предложения предполагают знание профиля поверхности. Существуют, однако, другие способы описания особенностей текстуры поверхности. Вильямсон и Хант [7] имели дело с контурными картами поверхности. Мур [11] в общих чертах дал пример математического представления геометрии поверхности, используя два уравнения, которые будут описаны ниже. Первый вывод, который можно сделать на основании всех этих исследований текстуры, заключается в том, что реальные поверхности после машинной обработки имеют, видимо, гауссово распределение высот неровностей. Далее, для характеристики текстуры поверхности в первую очередь необходимо получить представительный профиль поверхности. [37]
При изучении текстуры, возникающей под действием электрического поля, жидкий кристалл помещают на покровное стекло. К стеклу прикрепляют электроды из станиоли, к которым присоединяется источник тока. При небольшой напряженности поля наблюдается вихревое движение в слоях вещества, примыкающих к электродам. С увеличением напряженности поля движение распространяется на весь образец. При снятии поля нити исчезают. Для исследования текстуры в поле, перпендикулярном слою вещества, препарат помещают между стеклами, покрытыми проводящим ток прозрачным слоем окиси олова. [38]