Cтраница 1
Исследование ширины ( АН 0 5 э) и фор-мы линии в спектре электронного парамагнитного резонанса и концентрации парамагнитных частиц ( 1015 - 1020 ПМЦ / г) свидетельствует о существовании изолированных областей, в каждой из которых электроны в значительной степени делокализованы. [1]
Исследование ширины линии для относительно глубоких слоев металла позволяет сделать вывод о противоположном влиянии активной среды на плотность дефектов в тонких приповерхностных слоях. Следовательно, результаты, полученные для относительно глубоких слоев металлов, нельзя распространять на тонкие приповерхностные слои. [3]
Исследование ширины линий от 14N было использовано для изучения молекулярного движения в растворе, а также для определения констант квадрупольного взаимодействия. [4]
При исследовании ширины и формы спектральных линий приходится считаться с наличием ряда факторов, влияющих на наблюдаемые параметры. Такими искажающими факторами являются диффракция на апертурной диафрагме спектрографа, дефекты оптической системы, конечное значение ширины щели и разрешающей способности фотослоя. В случае линий комбинационного рассеяния необходимо учитывать также ширину возбуждающей линии. Уширение, вызываемое каждым из перечисленных факторов, можно охарактеризовать некоторой аппаратной функцией, которая соответствует действию данного фактора при исчезаю-ще малом влиянии всех остальных факторов. С целью проиллюстрировать роль каждого из искажающих факторов мы приводим в табл. 8 примерную оценку ширины соответствующих им аппаратных функций для нескольких типов спектрографов. [5]
Третий способ исследования ширины рэлеевской линии принадлежит Кавасаки [178]; в нем используется приближение взаимодействующих мод. [6]
Наиболее удобным является исследование ширины петель гистерезиса при мягком нагружении, когда в процессе испытания максимальные напряжения поддерживаются на заданном уровне, ж, следовательно, фиксирован один из параметров деформирования. [7]
Мы видим, что исследование ширины и состояния линии может дать немало ценных сведений о величине кристаллитов. [8]
Учет капиллярных сил необходим также для исследования ширины зоны скачка насыщенности. [9]
![]() |
График для перехода от величин SA к ширинам линий. [10] |
Характеристика ширины ли-получаемая подобным методом, Однако мы считаем необходимым подчеркнуть, что проведенная нами работа по измерению ширины линий комбинационного рассеяния представляет собой лишь первый шаг в этом направлении. Исследования ширины и формы линий комбинационного рассеяния разнообразными, в первую очередь прямыми, методами должны быть продолжены в дальнейшем. [11]
Поэтому нейтроны, испытавшие дифракционное рассеяние, в пределе практически не выбывают из пучка. Исследование ширины дифракционного пика само по себе представляет интерес. Действительно, при абсолютно прозрачном ядре дифракция исчезнет полностью. [12]
Следует иметь в виду, что искажающее действие каждого из рассмотренных выше факторов зависит не только от ширины, но и от формы соответствующих аппаратных функций, а также от формы изучаемых линий. Поэтому раздельный учет влияния каждого из искажающих факторов при исследований ширины и формы комбинационных линий сопряжен со значительными трудностями. Однако раздельный учет этих факторов вовсе не является необходимым: для того чтобы полностью исключить влияние всех искажающих факторов и по наблюдаемому контуру комбинационной линии найти ее истинный контур, достаточно иметь данные о наблюдаемом контуре возбуждающей линии. [13]
В тех случаях, когда требуется получить возбуждающие линии малой ширины, применяют ртутные лампы низкого давления, охлаждаемые водой. Однако, необходимость в специальных лампах возникает в основном при исследовании ширин и контуров линий комбинационного рассеяния. [14]
Поэтому нейтроны, испытавшие дифракционное рассеяние, в пределе практически не выбывают из пучка. Тем самым для вычисления сечения поглощения надо исключить из рассмотрения углы порядка й / нейтр - Исследование ширины дифракционного пика само по себе представляет интерес. Действительно, при абсолютно прозрачном ядре дифракция исчезнет полностью. [15]