Дифракционное исследование

Cтраница 3

Электронный микроскоп позволяет исследовать объект на просвет в широком диапазоне увеличений, получать темнопольные и светлопольные изображения, проводить дифракционные исследования избранного участка на просвет и на отражение, микродифракционные исследования участков объектов с локальностью 1 - 2 мк. [31]

Электронный микроскоп позволяет исследовать объекты на просвет в широком диапазоне увеличений, получать светлопольные и темнопольные изображения, проводить дифракционные исследования избранного участка объекта на просвет и микродифракционные исследования участков объектов с локальностью 2 - 3 мк. [32]

Тот факт, что длины волн тепловых нейтронов лежат в том самом интервале, который как раз необходим для дифракционных исследований кристалла, представляется счастливым стечением обстоятельств. Однако, в отличие от рентгеновских лучей, трудно получить действительно монохроматический пучок нейтронов. Использование кристалла в качестве монохроматора при дифракционных исследованиях является, возможно, самым легким методом. Но даже ив этом случае вследствие трудностей, связанных с коллимацией, наблюдается известное распределение по длинам волн. Наитруднейшей задачей при исследованиях с помощью дифракции нейтронов является получение пучка достаточной мощности. Работу можно проводить только там, где имеется большой и мощный атомный реактор и достаточно места для установки громоздких экранов. Даже и тогда получаемый на выходе пучок очень слаб но сравнению с обычным. [33]

Термическая стабильность ковалентных некристаллических элементов. [34]

Авторы считают, что их выводы подтверждаются тем, что структурные модели случайной упаковки атомов дают лучшее согласование с результатами дифракционных исследований, если в них используются различные длины связей, чем в случае одного связевого расстояния. Подтверждение своей концепции некристалличности они видят также в факте существования более чем одного политипа некристаллического мышьяка. [35]

Следует отметить, что этот метод определения длины связи из значений расстояний между пиками Р - R менее прямой, чем метод, используемый для любой разрешенной вращательной структуры или для дифракционных исследований, и не только гораздо менее точен, но и может быть источником ошибочного толкования результатов. Однако этот метод был применен для предварительной оценки длины связи, а также для сравнения длин связей в парах и в твердом состоянии. [36]

Реплика с поверхности стеклообразного полиэтилентерефталата. [37]

Не давая полного и детального обзора исследований в этой области ( см. [22]), можно отметить следующее: размеры упорядоченных областей во много раз превышают таковые для областей ближнего порядка, определяемых на основе дифракционных исследований. Домены имеют очень четкие границы, обособлены и отчетливо выделяются на фоне некой матрицы. Во многих работах [14, 15, 21-23] авторы говорят о преимущественно параллельной укладке большого числа ( в сечении 100ХЮО А2 уложится несколько сот отрезков макромолекул) протяженных ( - 100А) участков макромолекул, причем допускают, что макромолекулы образуют нерегулярные складки. В таком случае плотность доменов должна приближаться к плотности кристаллитов, а матрица, соответственно, содержащая большое число дефектов, должна иметь плотность, близкую к истинно аморфному состоянию. [38]

Настоящее обсуждение было сосредоточено на полифосфазенах с n - хлорфенокси - и ж-хлорфеноксизаместителями, так как наблюдаемые у них две или три четкие линии подтверждают структуру гексагонального типа. Дифракционное исследование трех других полифосфазенов с трифторэтокси - [5, 24], 3 4-диметилфенокси - и п-бензилфенокси - [33] боковыми группами имеют только одну четкую экваториальную линию в мезоморфном состоянии. Эта линия идентифицируется с псевдогексагональным рефлексом ( 100), намного более сильным, чем в хлорфеноксиполимерах. Параметры решетки ал, которые совпадают с расстояниями между цепями, были рассчитаны из этих значений йюо - ( Более точное значение iio будет давать лучшие величины а /, но этот рефлекс наблюдается только в двух полимерах. [39]

Другой возможный источник ошибок заключается в действии электронного пучка на объект. Дифракционные исследования показали, что слоистые кристаллы представляют собой двойниковые образования. [40]

Обычным светлопольным методом была изучена морфология сферолитов, тогда как тем-нопольный метод позволил наблюдать рост и разветвления дискретных кристаллических областей. Дифракционные исследования показали, что в образцах молекулы были упакованы в плоские листки с водородными связями, ориентированными в плоскости пленки. [41]

Настоящее обсуждение было сосредоточено на полифосфазенах с я-хлорфенокси - и ж-хлорфеноксизаместителями, так как наблюдаемые у них две или три четкие линии подтверждают структуру гексагонального типа. Дифракционное исследование трех других полифосфазенов с трифторэтокси - [5, 24], 3 4-диметилфенокси - и л-бензилфенокси - [33] боковыми группами имеют только одну четкую экваториальную линию в мезоморфном состоянии. Эта линия идентифицируется с псевдогексагональным рефлексом ( 100), намного более сильным, чем в хлорфеноксиполимерах. Параметры решетки а / г, которые совпадают с расстояниями между цепями, были рассчитаны из этих значений d10o - ( Более точное значение по будет давать лучшие величины а /, но этот рефлекс наблюдается только в двух полимерах. [42]

Это, по-видимому, объясняется тем, что при кристаллизации GeTe более существенно изменяет свой ближний порядок, чем GeSe. Однозначный ответ на этот вопрос может дать дифракционное исследование структуры этих соединений в аморфном и кристаллическом состояниях. [43]

При выяснении пространственной конфигурации молекул необходимо располагать информацией о длинах химических связей и углах между ними. Для большого числа молекул численные значения этих величин стали известны в результате рентгеноструктурных дифракционных исследований совершенных кристаллов и анализа поглощения электромагнитного излучения газообразными веществами в микроволновой области спектра. Данные значения соответствуют гипотетическим равновесным состояниям, в которых отсутствуют колебательные и вращательные движения. [44]

Для электронного пучка, ускоренного с помощью легко получа емой разности потенциалов порядка 40 ке, длина волны составляет около 0 06 А. Эта волна короче, чем волны рентгеновских лучей, обычно применяемых при дифракционных исследованиях. Но Такая величина еще не выходит за пределы применимости. Со времени открытия дифракции электронов пучки электронов широко использовались для изучения газов и паров. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5