Искровой источник

Cтраница 1

Искровой источник представляет собой ионизационную камеру с двумя электродами для образования искры и систему, необходимую для формирования пучка ионов и состоящую из вытягивающих, фокусирующих и ускоряющих линз. Электроды искрового разряда изготавливают из графитовых стержней. Порошкообразные пробы непосредственно наносят на электроды, концы которых имеют конусообразную форму. [1]

В искровом источнике трудно поддерживать стабильный разряд из-за изменения ширины зазора и ряда других факторов, поэтому в процессе анализа условия в плазме разряда меняются в широких пределах. [2]

Схема искрового ионного источника. 1 - импульсное напряжение, 2-электроды из анализируемого материала, 3 - фокусирующая и колли-мирующая диафрагмы, 4 - ионный пучок.| Схема ионного источника с электронной бомбардировкой. 1 - направление подачи газа и пара, 2-катод, а-коллектор электронов, 4-ионизационная камера, 5-электронный пучок, 6 - вытягивающая диафрагма, 7 -диафрагмы, фокусирующие и центрирующие ионный пучок, S - коллимирующие диафрагмы. 9 - отклоняющие плстстыпы, В-магнитное поле, фокусирующее электронный пучок, S - входная щель анализатора. [3]

В искровом источнике ( рис. 10) искровой разряд поддерживается между двумя электродами Z анализируемого материала диаметром 2 - 3 мм), расположенными на расстоянии к 0 5 мм ( если анализируемый материал диэлектрик, то он помещается внутрь трубчатых метал лич. К электродам прикладывается импульсное напряжение с длительностью импульсов 25 - 200 мк / сек я с частотой повторения от неск. [4]

В искровом источнике ионов ( как в серии отдельных пробоев, так и при использовании униполярного триггерного разряда) образуются разнообразные ионы. Это может быть результатом совершенно различных механизмов, действующих либо в различных локальных областях, либо в разные интервалы времени. Например, многозарядные ионы ( с зарядом десять или более) обычно образуются в высокочастотном искровом источнике. Такие ионы могут образоваться только в результате столкновений электронов. Поскольку порог ионизации для этих многозарядных ионов намного выше 1 кэВ, для их образования требуются электроны высоких энергий. Они должны образовываться либо присоединением электронов с энергией ниже 1 эВ при поверхностном распылении, либо путем ионизации Саха-Ленгмюра с горячих пятен поверхности. Еще менее понятно образование отрицательно заряженных молекулярных ионов. [5]

В обычном искровом источнике ионов фактором, влияющим на извлечение ионов из плазмы, по-видимому, является постоянное поле, созданное источником ускоряющего напряжения и проникающее в область искрового разряда. Повышение этого поля должно увеличить вклад элементов объема плазмы, находящихся при менее благоприятных условиях, и, таким образом, способствовать более представительному извлечению ионов. [6]

Эти свойства искрового источника делают невозможным применение его в масс-спектрометрах с одинарной фокусировкой. Большой раз-брос ионов по энергиям диктует необходимость фокусировки ионов по скоростям, а нестабильность ионного тока вынуждает применять интегральный метод регистрации спектра масс. Во всех приборах с искровым источником масс-спектр, как правило, регистрируют на фотопластинку или используют электрический детектор. Выбор фотографического способа регистрации был обусловлен его простотой, нечувствительностью к колебаниям ионного тока и возможностью одновременной регистрации с высокой чувствительностью широкого диапазона элементов, содержащихся в анализируемой пробе. [7]

Основные части искрового источника показаны на рис. 5.76. Наиболее совершенные спектроскопические источники обычно укомплектованы устройствами для возбуждения как искрового, так и дугового разрядов. [8]

Приборы с искровым источником ионов были подробно рассмотрены в предыдущих главах, поэтому здесь будут представлены только модификации для анализа поверхности твердых тел и тонких пленок. [9]

Масс-спектрометр с искровым источником ионов является весьма ценным прибором для определения примесей в твердых телах. Ниже перечислены основные особенности метода, которые делают его очень привлекательным для анализа. [10]

Наиболее широко используется радиочастотный искровой источник, который располагается в одной неподвижной точке, а образец - сканируется. Этот источник очень удобен при изучении состава пленок в зависимости от глубины. [11]

Угольные дуги и непрерывные искровые источники из металлов, широко применявшиеся в прошлом, в настоящее время практически не используются. Они имеют больше недостатков, чем преимуществ. [12]

Модуляцию интенсивности излучения искрового источника ( или солнечного света) с помощью механического затвора или вращающегося зеркала использовали еще Физо и Майкельсон, применившие оптические импульсы для измерения скорости света. Применение электрооптических затворов ( сейчас их быстродействие доведено до единиц пикосекунд) позволило принципиально усовершенствовать эту технику. Быстрая электрооптическая модуляция используется и в современных пикосекундных лазерных системах. [13]

Еще одна модификация искрового источника, которая может привести к получению более представительного ионного тока, предложена в разд. [14]

Зависимость степени извлечения Висмута из закиси-окиси урана от температуры нагрева пробы.| Зависимость степени извлечения натрия из закиси-окиси урана от продолжительности нагрева пробы при разных температурах. [15]

Страницы: 1 2 3 4