Длина - волна - край - поглощение
Cтраница 1
Длина волны края поглощения: 1 61 А, / ( - край кобальта. [1]
Скачок при длине волны края поглощения КЕ не является строго вертикальным, а немного искривлен ( как показано на рисунке) из-за того, что щель имеет конечную ширину. Количество определяемого элемента пропорционально расстоянию по вертикали между точками пересечения X и У, которые находят путем экстраполяции. [2]
При обсуждении нричин непостоянства длины волны края поглощения анионов в этих соединениях следует учитывать, конечно, и некоторые специфические особенности последних, проявляющиеся, например, в виде их аномальных электрических и магнитных свойств. [3]
В них содержатся средние значения длин волн края поглощения фосфора разной валентности в соединениях различных типов. [4]
Здесь проявляется следующая квантовая закономерность: длина волны края поглощения соответствует наименьшему кванту излучения, необходимому для возбуждения характеристической линии, связанной с этим краем. [6]
Обращает на себя внимание тот факт, что длина волны истинного края поглощения Gl ( XJ, так же как и длина волны, соответствующая максимуму селективной линии ( Х2), заметно изменяется у атомов хлора, находящихся в молекулах в различном валентном состоянии. Наоборот, в соединениях, сходных по строению, в которых валентность атомов хлора не изменяется, наблюдаются лишь небольшие колебания величин X вокруг некоторых средних значений, характерных для данной группы веществ. Об этом же говорят также данные, полученные учеником Линда, Штеллингом, в исследовании, которое было проведено с целью уточнить и расширить результаты, полученные первым автором. Приведенные в ней числа систематически на 1 - 2 eV превышают значения длин волн, полученные Линдом, и позволяют достаточно четко выявить связь между появлением абсорбционной линии и вхождением в молекулу кристаллизационной; воды. Положение истинного края поглощения ( Хг) не зависит от присутствия воды в молекуле соединения. [7]
Экспериментальная проверка правильности выражения ( 18) производится измерением длин волн краев поглощения, расчетом ( исходя из этих значений) длины волны испущенной линии и сравнением результата расчета с длиной волны, измеренной непосредственно. [9]
Наряду с этим рассмотрен и экспериментальный материал, иллюстрирующий зависимость длины волны края поглощения атомов от валентности поглощающего элемента и состояния его атомов в кристаллической решетке. [10]
В этой связи следует отметить установленную Фаянсом аналогию между характером смещения длины волны основного края поглощения и законом изменения ионной рефракции в ряде соединений типа NaCl. Эта аналогия указывает на то, что поляризационные эффекты, обусловливающие, как известно, явления рефракции, могут также иметь большое значение для объяснения явлений, сопровождающих поглощение рентгеновских лучей атомами в соединениях. [11]
Сейчас еще преждевременно оценивать возможности, связанные с использованием намечающейся связи между значениями длин волн краев поглощения элемента в его соединениях и структурой молекул. Нам представляется, что успешное применение описанных закономерностей вряд ли окажется возможным без соблюдения сугубой осторожности в выводах и в трактовке следствий, вытекающих из обработки результатов эксперимента. Примеры таких поспешных и поэтому неверных выводов приведены и в настоящей работе ( см., например, стр. Однако использование своеобразных возможностей разобранного метода в сочетании с очевидной его простотой и доступностью в условиях современных рентгеновских лабораторий может оказаться полезным при разрешении некоторых вопросов структурной химии, часто с трудом поддающихся разрешению другими методами, уже получившими широкое распространение. [12]
Здесь т - характерная для данного типа кристаллической решетки постоянная, пропорциональная поляризуемости ионов в соединении; X - длина волны края поглощения атома в решетке, a XOQ - длина волны края поглощения аниона при бесконечном удалении его от катиона. Величина Х отражает те остаточные изменения в структуре электронной оболочки атома в соединении, которые отличают его от свободного и обусловлены характером воздействия на него со стороны соседей по решетке. Вообще говоря, эта величина должна быть различной для разных типов кристаллических структур. [13]
Здесь т - характерная для данного типа кристаллической решетки постоянная, пропорциональная поляризуемости ионов в соединении; X - длина волны края поглощения атома в решетке, a XOQ - длина волны края поглощения аниона при бесконечном удалении его от катиона. Величина Х отражает те остаточные изменения в структуре электронной оболочки атома в соединении, которые отличают его от свободного и обусловлены характером воздействия на него со стороны соседей по решетке. Вообще говоря, эта величина должна быть различной для разных типов кристаллических структур. [14]
Страницы: 1 2